Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO2/Si(001)
Переводная версия: 10.1134/S106378421801005X 
Президиум ДВО РАН, Программа фундаментальных исследований ДВО РАН «Дальний Восток» 2015-2017 гг., 0262-2015-0130
Балашев В.В.
1,2, Коробцов В.В.
1,2
1Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток, Россия 
2Школа естественных наук Дальневосточного федерального университета, Владивосток, Россия
2Школа естественных наук Дальневосточного федерального университета, Владивосток, Россия
Email: balashev@mail.dvo.ru, korobtsov@iacp.dvo.ru
Поступила в редакцию: 26 апреля 2017 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2017 г.
Методом дифракции быстрых электронов (ДБЭ) исследована структура поликристаллических пленок Fe, выращенных на окисленной поверхности Si(001) при комнатной температуре. Установлено, что ориентация зерен в выращенных пленках зависит от количества осажденного железа. Для пленок Fe толщиной менее 5 nm была характерна случайная ориентация зерен Fe. Пленки Fe толщиной более 5 nm имели (111) текстуру, ось которой совпадала с нормалью к поверхности. Угловое отклонение направления [111] решетки Fe относительно нормали к поверхности составляло ± 25o. Обнаружено, что увеличение толщины пленки железа приводит к появлению (110) текстуры. DOI: 10.21883/JTF.2018.01.45485.2314
- 1 Ghebouli B., Cherif S.-M., Layadi A., Helifa B., Boudissa M. // J. Magn. Magn. Mater. 2007. Vol. 312. P. 194--199
- Cao Y., Jiang W., Droubay T., Ramuhalli P., Edwards D., Johnson B.R., McCloy J. // J. Magn. Magn. Mater. 2015. Vol. 395. P. 361--375
- Kim Y.K., Oliveria M. // J. Appl. Phys. 1993. Vol. 74. P. 1233--1241
- Javed A., Morley N.A., Gibbs M.R.J. // Appl. Surf. Sci. 2011. Vol. 257. P. 5586--5590
- Andrieu S., Frechard P. // Surf. Sci. 1996. Vol. 360. P. 289--296
- Yelon A., Asik J.R., Hoffman R.W. // J. Appl. Phys. 1962. Vol. 33. P. 949--954
- Litvinov D., Howard J.K., Khizroev S., Gong H., Lambeth D. // J. Appl. Phys. 2000. Vol. 87. P. 5693--5695
- Tang F., Parker T., Wang G.-C., Lu T.-M. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2007. Vol. 40. N 4. P. 666--671
- Ishizaka A., Shiraki Y. // J. Electrochem. Soc. 1986. Vol. 133. N 4. P. 666--671
- Kobayashi H., Asuha A., Maida O., Takahashi M., Iwasa H. // J. Appl. Phys. 2003. Vol. 94. N 11. P. 7328--7335
- Mebarki M., Layadi A., Guittoum A., Benabbas A., Ghebouli B., Saad M., Menni N. // Appl. Surf. Sci. 2011. Vol. 257. P. 7025--7029
- Rosicka D., Sembera J. // Nanoscale Res. Lett. 2011. N 6. P. 527
- Butler R.F., Banerjee S.K. // J. Geophys. Res. 1975. Vol. 80. N 2. P. 252--259
- Muxworthy A.R., Williams W. // Geophys. J. Int. 2015. Vol. 202. P. 578--583
- Brajpuriya R., Tripathi S., Sharma A., Shripathi T., Chaudhari S.M. // Eur. Phys. J. B. 2006. Vol. 51 P. 131--136
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
