Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2018, выпуск 2 » Статья стр. 258
<<<>>>
Электроразрядный химический HF-лазер --- высококогерентный источник для ИК-голографии. Перспективы практического применения
DOI: 10.21883/JTF.2018.02.45418.2275
Переводная версия: 10.1134/S1063784218020135
Федотов О.Г.1, Фомин В.М.1
1Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д.В. Ефремова, Санкт-Петербург, Россия
Email: vitfominm@gmail.com
Поступила в редакцию: 3 апреля 2017 г.
Выставление онлайн: 20 января 2018 г.
PDF версия
Приведены предварительные результаты экспериментов по записи фазовых и амплитудных голограмм под действием излучения электроразрядных HF-лазеров и обсуждаются перспективы использования таких лазеров для диагностики различных объектов. Показано, что при обеспечении достаточно высокой степени однородности активной среды лазера излучение характеризуется высокой степенью когерентности (длина когерентности может превышать 6 m) без применения каких-либо специальных мер по селекции модового состава. Рассматрены возможности контроля пространственного распределения концентрации электронов в эксимерных и электроразрядных химических HF(DF)-лазерах, а также контроля распределения основных выгорающих компонент таких лазеров. Продемонстрирована потенциальная возможность нанесения голографических идентификационных меток на произведения живописи.
  1. Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский Ю.И. // ЖТФ. 1968. Т. 38. Вып. 9. С. 1405--1409
  2. Островская Г.В. // ЖТФ. 2008. Т. 78. Вып. 9. С. 1--28
  3. Acedo P., Lamela H., Sanchez M., Estrada T., Sanchez J. // Rev. Sci. Instrum. 2004. Vol. 75. N 11. P. 4671--4677
  4. Thomas C.E., Baylor Jr. L.R, Combs S.K., Meitner S.J., Rasmussen D.A., Granstedt E.M., Majeski R.P., Kaita R. // Rev. Sci. Instrum. 2010. Vol. 81. N 10. P. 527-1--527-7
  5. Georges M.P., Vandenrijt J.F., Thizy C., Stockman Y., Queeckers P., Dubois F., Doyle D. // Appl. Opt. 2013. Vol. 52. N 1. P. 102--116
  6. Alexeenko I., Vandenrij J.F., Georges M., Pedrini G., Cedric T., Osten W., Vollheim B. // Appl. Mech. Mater. 2010. Vol. 24--25. P. 147--152
  7. Tornari V., Bernikola E., Osten W., Groves R.M., Marc G., Hustinx G.M., Hackney S. // Proc. SPIE. 2007. Vol. 6618. P. 715--716
  8. Braun W. // Phys. Lett. A. 1974. Vol. 47. N 2. P. 144--146
  9. Kristal R. // Appl. Opt. 1975. Vol. 14. N 3. P. 628--633
  10. Braun W.W. // Opt. Eng. 1975. Vol. 14. N 3. P. 208--209
  11. Бурцев В.А., Водовозов В.М., Дашук П.Н., Кулаков С.Л., Прокопенко В.Ф., Фомин В.М., Челноков Л.Л. // Тез. докл. II Всесоюзн. совещания по физике электрического пробоя газов. Тарту, 1984. С. 414--418
  12. Дашук П.Н., Кулаков С.Л. // Письма в ЖТФ. 1981. Т. 7. Вып. 14. С. 853--857
  13. Бурцев В.А., Зеленов Л.А., Камардин И.Л., Курунов Р.Ф., Кучинский A.А., Раткевич В.К., Родичкин В.А., Смирнов В.Г., Шанский B.Ф. // Квант. электрон. 1988. Т. 15. N 1. С. 167--172
  14. Бурцев В.А., Безгрешнов М.В., Финкельштейн К.И., Фомин В.М. // Тез. докл. Всесоюзн. конф. Физика и конверсия. Калининград, 1991. С. 161
  15. Вадковская Т.Н., Дрожбин Ю.А., Лобачев В.А., Мурина Т.М., Прохоров А.М., Трофименко В.В. // Квант. электрон. 1988. Т. 15. N 1. С. 229--232
  16. Картужанский Л.А., Мишунин И.Ф., Центровский В.А. // Укр. физ. журн. 1978. Т. 23. N 2. С. 267--273
  17. Горлин Т.Б., Парицкий Л.Г., Тиснек Т.В. // ЖТФ. 1987. Т. 57. Вып. 1. С. 159--163
  18. Аполлонов В.В., Казанцев С.Ю., Орешкин В.Ф., Фирсов К.Н. // Квант. электрон. 1998. Т. 25. N 2. С. 123--125
  19. Булаев В.Д., Гусев В.С., Казанцев С.Ю., Кононов И.Г., Лысенко С.Л., Морозов Ю.Б., Познышев А.Н., Фирсов К.Н. // Квант. электрон. 2010. Т. 40. N 7. С. 615--618
  20. Панченко А.Н., Тарасенко В.Ф. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 11. С. 22--28
  21. Климук Е.А., Кутумов К.А., Трощиненко Г.А. // Квант. электрон. 2010. Т. 40. N 2. С. 103--107
  22. Bochkov V.D., Kazantsev S.Yu., Kononov I.G., Podlesnikh S.V. // Proc. VIII Intern. Conf. on Plasma Physics and Plasma Technology. Minsk. 2015. Vol. II. P. 459--462
  23. Бельков Е.П., Дашук П.Н., Спичкин Г.Л., Фомин В.М. // Письма в ЖТФ. 1986. Т. 12. Вып. 23. С. 278--281
  24. Елецкий А.В. // УФН. 1978. Т. 125. Вып. 2. С. 279--214
  25. Бычков Ю.И., Ямпольская С.А., Ястремский А.Г. // Квант. электрон. 2010. Т. 40. N 1. С. 28--34
  26. De Angelis A., Lazzaro P., Garosi F., Giordano G., Letardi T. // Appl. Phys. B. 1988. Vol. 47. N 1. P. 1--6
  27. Бычков Ю.И., Горчаков С.Л., Ястремский А.Г. // Квант. электрон. 2000. Т. 30. N 8. С. 733--737
  28. Lyman J.L. // Appl. Opt. 1973. Vol. 12. N 11. P. 2736--2747
  29. Arnold C.P., Wenzel R.G. // Quant. Electron. 1973. Vol. QE-9. N 4. P. 491--493
  30. Ostrovskaya G.V., Zaidel A.N. // Phys. Lett. A. 1968. Vol. 26. N 9. P. 393--394
  31. Kruger G. // Appl. Opt. 1982. V.21. ?15. P. 2841?2844
  32. Великанов С.Д., Елугин А.С., Кудряшов Е.А., Пегоев И.Н., Синьков С.Н., Фролов Ю.И. // Квант. электрон. 1997. Т. 24. N 3. С. 279--282
  33. Vainos N.A., Mailis S., Pissadakis S., Boutsikaris L., Dainty P., Parmiter P.J.M., Hall T.J. // Appl. Opt. 1996. V. 35. N 32. P. 6304--6319

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme