Зависимость структуры ионно-модифицированных слоев монокристаллов NiTi от ориентации облучаемой поверхности
Полетика Т.М.1, Мейснер Л.Л.1,2, Гирсова С.Л.1, Твердохлебова А.В.1, Мейснер С.Н.1,2
1Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия
2Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
Email: poletm@ispms.tsc.ru
Поступила в редакцию: 17 ноября 2015 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2017 г.
Методами оже-электронной спектроскопии и просвечивающей электронной микроскопии исследованы состав и структура имплантированных Si-слоев монокристаллов никелида титана, различно ориентированных относительно направления ионно-пучкового воздействия. Выявлена роль "мягкой" [111]B2 и "жесткой" [001]B2 ориентаций NiTi в формировании структуры ионно-модифицированного поверхностного слоя, а также дефектной структуры приповерхностных слоев монокристаллов. Обнаружены ориентационные эффекты селективного распыления и каналирования ионов, контролирующие состав и толщину формирующихся оксидного и аморфного слоев, глубину проникновения ионов и примесей, а также концентрационный профиль распределения Ni на поверхности. DOI: 10.21883/JTF.2017.07.44672.1663
- Otsuka K., Ren X. // Prog. Mater. Sci. 2005. Vol. 50. P. 511-678
- Liu X., Chu P.K., Ding C. // Mater. Sci. Eng. R. 2010. Vol. 70. P. 275-302
- Rautray T.R., Narayanan R., Kim K.-H. // Prog. Mater. Sci. 2011. Vol. 56. P. 1137-1177
- Pogrebnjak A.D., Bratushka S.N. // Russ. Chem. Rev. 2013. Vol. 82. P. 1135-1159
- Schaffer J.E. // J. Mater. Eng. Perform. 2009. Vol. 18. P. 582-587
- Barney M.M., Xub D., Robertson S.W. et al. // J. Mech. Behav. Biomed. Mater. 2011. Vol. 4. P. 1431-1439
- Pfetzing-Micklich J., Somsen C., Dlouhy A. et al. // Acta Mater. 2013. Vol. 61. P. 602-616
- Jiang S., Hu L., Zhao Y., Zhang Y., Liang Y. // Mater. Sci. Eng. A. 2013. Vol. 569. P. 117-123
- Gall K., Sehitoglu H., Chumlyakov Y.I., Kireeva I.V. // Acta Mater. 1999. Vol. 47. P. 1189-1214
- Meisner S.N. // Russ. Phys. J. 2014. Vol. 57. P. 403-410
- Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха. М.: Мир, 1984. 600 с
- Rahmel A., Spencer P. // Oxid. Met. 1991. Vol. 35. P. 53-68
- Spens J.C.Y. High-resolution Electron Microscopy. N Y.: Oxford University Press, 2003. 403 p
- Kucharski S., Levintant-Zayonts N., Luckner J. // Mater. Des. 2014. Vol. 56. P. 671-679
- Schmidt B. // Radiat. Eff. Defects Solids. 2007. Vol. 162. P. 171-184
- Norfleet D.M., Sarosi P.M., Manchiraju S. et al. // Acta Mater. 2009. Vol. 57. P. 3549-3561
- Владимиров В.И., Романов А.Е. Дисклинации в кристаллах. Л.: Наука, 1986. 224 с
- Tan L., Crone W.C. // Acta Mater. 2002. Vol. 50. P. 4449-4460
- Tokarsky J., Capkova P. // Appl. Surf. Sci. 2013. Vol. 284. P. 155-164
- Sputtering of multicomponent materials. R. Behrisch (eds). Berlin: Springer-Verlag, 1983. 488 p
- Коротаев А.Д., Тюменцев А.Н. // Изв. вузов. Физика. 1994. N 8. С. 3-30
- Parkhomenko V.D., Dubinin S.F. // Phys. Metals Metallogr. 2012. Vol. 113. P. 641-662
- Carnera A., Gasparotto A., Berti M., Fabbri R. // Microchim. Acta 1994. Vol. 114. P. 205-211
- Saraf L.V. // Methods Phys. Res., Sect. B // 2015. Vol. 349. P. 193-200
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.