Вышедшие номера
Разброс в измерениях времени жизни отрицательных ионов как следствие их адсорбции на стенках камеры ионизации
Лукин В.Г.1, Хвостенко О.Г.1, Туймедов Г.М.1
1Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН, Уфа, Россия
Email: lukin@anrb.ru
Поступила в редакцию: 29 февраля 2016 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2017 г.

Измерено время вытягивания отрицательных ионов из камеры ионизации статического масс-спектрометра как величина, значительно превышающая время их свободного выхода из камеры. Установлено, что аномально большое время вытягивания ионов обусловлено их адсорбцией на стенках камеры ионизации, в результате чего их перемещение в трубу анализатора задерживается. Показано, что отрицательные ионы, образующиеся первоначально как временноживущие относительно автоотщепления добавочного электрона, в результате адсорбции стабилизуются до вечноживущих, и последующий вклад вечноживущих ионов в полный ионный поток, достигающий систему регистрации, искажает результаты измерений времени жизни ионов. Показано, что часть адсорбированных ионов гибнет за счет нейтрализации в результате туннелирования добавочного электрона в поверхность. Вероятность туннелирования возрастает с ростом температуры, и в итоге температурная зависимости времени жизни ионов также искажается. DOI: 10.21883/JTF.2017.07.44666.1786