Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование поведения структурных дефектов в нанокристаллах CdSexS1-x
1Ереванский государственный университет, Ереван, Армения 
Email: ppetros@ysu.am
Поступила в редакцию: 21 марта 2016 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2017 г.
Представлены экспериментальные результаты, полученные при исследовании спектральной зависимости коэффициента поглощения нанокристаллов CdSexS1-x в силикатном стекле с разной степенью совершенства кристаллической решетки. Получена зависимость концентрации дефектов от времени термообработки. Показано, что процесс исчезновения дефектов имеет тепловой активационный характер. DOI: 10.21883/JTF.2017.03.44252.1858
- Alferov Zh. // Rev. Mod. Phys. 2001. Vol. 73. N 3. P. 767
- Асрян Л.В., Сурис Р.С. // ФТП. 2004. Т. 38. Вып. 1. C. 3-26
- Peng X., Manna L., Yang W., Wickham J., Scher E., Kadavanich A., Alivisatos A.P. // Nature. 2000. Vol. 404. P. 59
- Kim L.Y., Jung H.J., Kim K.H., Yoon S.H., Song S.M., Bae H.S., Kim Y. // Nanotechnology. 2009. Vol. 20. P. 095 605
- Masumoto Y., Takagahara T. // Semiconductor Quantum Dots. Berlin: Springer. 2002
- Chan W., Nie S. // Science. 1998. Vol. 281. P. 2016
- Dabbousi B.O., Bawendi M.G., Onotsuka O., Rubner M.F. // Appl. Phys. Cem. B.1995. Vol. 66. P. 1316
- Gratzel M. // Nature. 2001. Vol. 414. P. 338
- Moris D., Egdell R.J. // Mater. Chem. 2001. Vol. 11. P. 3207
- Бондарь И.В., Гурин В.С., Соловей Н.П., Молочко А.П. // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 8. С. 959-965
- Ekimov A.I., Efros A.L. // Phys. Stat. Sol. B. 1988. Vol. 150. P. 627-631
- Суздалев И.П. Нанотехнология: физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов. М.: Ком. книга, 2006
- Grigoryan L., Petrosyan P., Petrosyan S., Bellani V., Maglia F. // Eur. Phys. J. 2003. Vol. 34. P. 415-419
- Седракян Д.М., Петросян П.Г., Григорян Л.Н // ЖТФ. 2015. Т. 85. Вып. 5. С. 94-99
- Urbach F. // Phys. Rev. 1953. Vol. 92. P. 1324
- Клява Г.Я. // ФТТ. 1985. Т. 27. Вып. 5. С. 1350-1353
- Бонч-Бруевич В.Л. // УФН. 1983. Т. 140. С. 583
- Pankov J.I. // Optical Processes in Semiconductors. New Jersey, USA. 1971. P. 34
- Bhattacharjee B., Hsu C.H., Lu C.H., Ruaan R.C. // Chalcogen. Lett. 2010. Vol. 7. P. 71-81
- Kayanuma Y. // Phys. Rev. 1988. Vol. 38. P. 9797
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
