Вышедшие номера
Возможности двухфотонной конфокальной микроскопии для исследования объемных характеристик полупроводниковых материалов
Калинушкин В.П.1, Уваров О.В.1
1Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва, Россия
Email: vkalin@kapella.gpi.ru
Поступила в редакцию: 11 декабря 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2016 г.

Hа примере кристаллов Zn-Se рассматриваются перспективы использования двухфотонной конфокальной микроскопии для создания "плоских" и "объемных карт" межзонной и примесной люминесценции в полупроводниковых материалах. Показана возможность формирования таких "карт" с шагом по глубине и пространственным разрешением по плоскости в несколько mum до расстояний от поверхности до 1 mm. C помощью этой методики выявлены люминесцентно-активные неоднородности в кристаллах и исследованы их структуры и люминесцентные характеристики. Обсуждены перспективы использования двухфотонной конфокальной микроскопии для исследования других прямозонных полупроводников и материалов 4-й группы.
  1. Yuryev V.A., Kalinushkin V.P., Zayats A.V., et al. Notions and Perspectives of Nonlinear Optics. Ed. Ole Keller, Singapore; World Scientific, 1996. P. 665-670
  2. Ищук Ю.А., Ваксман Ю.Ф., Яцун В.В. // ФТП. 2012. T. 46. Вып. 10. С. 1288-1292
  3. Ищук Ю.А., Ваксман Ю.Ф., Яцун В.В. и др. // ФТП. 2011. Т. 45. Вып. 9. С. 1129-1134
  4. Wilson T.. Confocal and Two-photon Microscopy. Wiley-Liss, 2002. P. 19-38
  5. Diaspro A., Sheppard C. Confocal and Two-photon Microscopy. Wiley-Liss, 2002. P. 39-75
  6. Jonkman J., Stelzer E. Confocal and Two-photon Microscopy. Wiley-Liss, 2002. P. 101-127
  7. Noor A.S.M., Miyakwa A., Kawata Y., Torizawa M. // Appl. Phys. Lett. 2008. Vol. 92. P. 116 106
  8. Недегло Д.Д., Симашкевич A.B. Электрические и люминесцентные свойства селенида цинка. Кишинев: Штиинца, 1984. 153 с
  9. Rau E.L., Zhukov A.N., Yakimov E.B. // Sol. Stat. Phenomena. 1998. Vol. 53-54. P. 327

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.