Вышедшие номера
Исследование надежности полупроводниковых излучателей с различной конструкцией резонаторов
Иванов А.В.1, Курносов В.Д.1, Курносов К.В.1, Курнявко Ю.В.1, Лобинцов А.В.1, Мешков А.С.1, Пенкин В.Н.1, Романцевич В.И.1, Успенский М.Б.1, Чернов Р.В.1
1"НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха", Москва, Россия
Email: webeks@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 июля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2016 г.

Представлены результаты исследований наработки лазерных диодов обычной конструкции и диодов с неинжектируемыми выходными секциями. Обсуждены причины уменьшения наработки диодов с одной просветленной гранью резонатора по сравнению с диодами с двумя защитными покрытиями и излучателями с волоконной брэгговской решеткой.