Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2016, выпуск 7 » Статья стр. 87
<<<>>>
Оптические характеристики частиц, полученных электроэрозионным диспергированием титана в перекиси водорода
ФАНО России, Программа фундаментальных научных исследований «Дальний Восток» на 2015−2017 гг. Дальневосточного отделения РАН, 15-I-4-004о
Пячин С.А. 1, Бурков А.А. 1, Макаревич К.С. 1, Зайцев А.В. 1, Карпович Н.Ф. 1, Ермаков М.А. 2
1Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт материаловедения Хабаровского научного центра Дальневосточного отделения Российской академии наук
2Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Тихоокеанский государственный университет»
Email: pyachin@mail.ru, burkovalex@mail.ru, makarevich7@mail.ru, alex-im@mail.ru, knf1992@mail.ru, equalgod88@gmail.com
Поступила в редакцию: 28 июля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2016 г.
PDF версия
Частицы оксидов титана были получены методом электроразрядного диспергирования титана в водном растворе перекиси водорода. Методами электронной микроскопии, рентгеновской дифрактометрии, спектроскопии диффузного отражения исследованы морфология, состав и оптические характеристики эрозионных частиц. Установлено, что частицы состоят из титана и его разновалентных оксидов. Край оптического поглощения частиц лежит в УФ-области спектра. Ширина запрещенной зоны составляет 3.35 eV для непрямых переходов и 3.87 eV для прямых разрешенных переходов. Посредством продолжительного нагрева при 480-550oС в воздухе она уменьшается, в результате можно получить порошковые оксидные композиции, которые по оптическим характеристикам аналогичны анатазу. Продукты эрозии полностью окисляются до рутила после отжига при 1000oC в воздушной среде.
  1. Prashant V. Kamat. // J. Phys. Chem. C. 2012. Vol. 116. P. 11849--11851
  2. Kumar S.G., Devi L.G. // J. Phys. Chem. A. 2011. Vol. 115. P. 13211--13241
  3. Tang H., Prasad K., Sanjines R., Levy F. // Sens. Actuators. B. 1995. Vol. 26. P. 71--75
  4. Kah H.L., Purushothaman M., Shaliza I., Pichiah S. // Solar Energy. 2014. Vol. 101. P. 321--332
  5. Eufinger K., Poelman D., Poelman H., Gryse R.D., Marin G.B. // Thin solid films: process and applications / Editor: Nam S.C. Transworld Research Network. 2008. P. 189--227
  6. Брус В.В., Ковалюк З.Д., Марьянчук П.Д. // ЖТФ. 2012. T. 82. Вып. 8. С. 110--113
  7. Беляев А.П., Малыгин А.А., Антипов В.В., Рубец В.П. // ФТТ. 2005. Т. 51. Вып. 3. С. 465--467
  8. Padmanabhan P.V.A., Sreekumar K.P., Thiyagarajan T.K., Satpute R.U., Bhanumurthy K.R.U., Sengupta P., Dey G.K., Warrier K.G.K. // Vacuum. 2006. Vol. 80. P. 1252--1255
  9. Иевлев В.М., Кущев C.Б., Латышев А.Н., Леонова Л.Ю., Овчинников О.В., Смирнов М.С., Попова Е.В., Костюченко А.В., Солдатенко С.А. // ФТП. 2014. Т. 48. Вып. 7. С. 875--884
  10. Oh S.H., Kim D.J., Hahn S.H., Kim E.J. // Mater. Lett. 2003. Vol. 57. P. 4151--4155
  11. Moslehirad F., Majles Ara M.H., Torkamany M.J., Afsary M., Ghorannevis M., Sabbaghzadeh J. // Laser Phys. 2013. Vol. 23. P. 055 402
  12. Carrey J., Radousky H.B., Berkowitz A.E. // J. Appl. Phys. 2004. Vol. 95. P. 823--840
  13. Hsu M.S., Meyers M.A., Berkowitz A. // Scripta Metallurgica et Materialia. 1995. Vol. 32. P. 805--808
  14. Lu X., Pan Y., Liu K., Liu M., Zhang H. // J. Appl. Phys. 2002. Vol. 91. P 24--31
  15. Lee W.H., Kim S.J., Lee W.J., Byun C.S., Kim D.K., Kim J.Y., Hyun C.Y., Lee J.G., Park J.W. // J. Mater. Sci. 2001. Vol. 36. P. 3573--3577
  16. Гордиенко П.С., Верхотуров А.Д., Достовалов В.А., Жевтун И.Г., Панин Е.С., Коневцов Л.А., Шабалин И.А. // ЭОМ. 2011. Т. 47. Вып. 3. С. 15--27
  17. Киреев В.А. Методы практических расчетов в термодинамике химических реакций. М: Химия, 1970. 520 с
  18. Карпович Н.Ф., Пугачевский М.А., Штарев Д.С. // Российские нанотехнологии. 2013. Т. 8. Вып. 11--12. С. 65--68
  19. Кортюм Г., Браун В., Герцог Г. // УФН. 1965. Т. 85. Вып. 2. С. 365--380
  20. Уханов Ю.И. Оптические свойства полупроводников. М.: Наука, 1977. 368 с
  21. Li J.-G., Ishigaki T., Sun X. // J. Phys. Chem. C. 2007. Vol. 111. P. 4969--4976
  22. Persson C., Ferreira da Silva A. // Appl. Phys. Lett. 2005. Vol. 86. P. 231 912--231 912
  23. Madhusudan Reddy K., Sunkara V. Manorama, Ramachandra Reddy A. // Materials Chemistry and Physics. 2002. Vol. 78. P. 239--245

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme