Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Модификация структуры покрытий TiAlN путем предварительной бомбардировки стальной подложки ионами Ti

Шугуров А.Р., Акулинкин А.А., Панин А.В., Перевалова О.Б., Сергеев В.П.¹

¹Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия Institute of Strength Physics and Materials Science of Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Tomsk, Russia

Institute of Strength Physics and Materials Science of Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Tomsk, Russia

Поступила в редакцию: 12 мая 2015 г.

Выставление онлайн: 18 февраля 2016 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Методами рентгеновской дифракции просвечивающей электронной и атомно-силовой микроскопии, а также наноиндентирования изучены покрытия TiAlN, нанесенные на подложки из стали 12Х18Н9Т до и после предварительной обработки пучками ионов Ti. Показано, что модификация поверхностного слоя подложки приводит к изменению структуры и преимущественной ориентации покрытий. Установлено, что механические свойства покрытий TiAlN существенно зависят от длительности ионной бомбардировки.

Posti E. // Wear. 1989. Vol. 129. N 2. P. 273--283
Hedenqvist P., Olsson M., Wallen P., Kassman A., Hogmark S., Jacobson S. // Surf. Coat. Technol. 1990. Vol. 41. N 2. P. 243--256
Djomeni L., Mourier T., Minoret S., Fadloum S., Piallat F., Burgess S., Price A., Zhou Y., Jones C., Mathiot D., Maitrejean S. // Microelectron. Eng. 2014. Vol. 120. P. 127--132
Selvakumar N., Barshilla H.C. // Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 2012. Vol. 98. P. 1--23
Liu W., Hu H., Pu N., Liang S. // J. Alloys Comp. 2015. Vol. 631. P. 146--152
Wang D., Chiu M. // Surf. Coat. Tecnol. 2002. Vol. 156. N 1--3. P. 201--207
Chim Y., Ding X., Zeng X., Zhang S. // Thin Solid Films. 2009. Vol. 517. P. 4845--4849
McIntyre D., Green J.E., Hakansson G., Sundgren J.-E., Munz W.-D. // J. Appl. Phys. 1990. Vol. 67. N 3. P. 1542--1553
Kawate M., Hashimoto A.K., Suzuki T. // Surf. Coat. Technol. 2003. Vol. 165. N 2. P. 163--167
Roos J.R., Celis J.P., Vancoille E., Veltrop H., Boelens S., Jungblut F., Ebberink J., Homberg H. // Thin Solid Films. 1990. Vol. 193--194. P. 547--556
PalDey S., Deevi S.C. // Mater. Sci. Eng. A. 2003. Vol. 342. P. 58--79
Madan A., Kim I.W., Cheng S.C., Yashar P., Dravid V.P., Barnett S.A. // Phys. Rev. Lett. 1997. Vol. 78. N 9. P. 1743--1746
Liu Z.-J., Shum P.W., Shen Y.G. // Thin Solid Films. 2004. Vol. 468. N 1--2. P. 161--166
Carvalho S., Ribeiro E., Rebouta L., Pacaud J., Goudeau Ph., Ranault P.O., Riviere J.P., Tavares C.J. // Surf. Coat. Technol. 2003. Vol. 172. P. 109--116
Табаков В.П., Чихранов А.В. Износостойкие покрытия режущего инструмента, работающего в условиях непрерывного резания. Ульяновск: УлГТУ, 2007. 255 с
Suzuki T., Huang D., Ikuhara Y. // Surf. Coat. Technol. 1998. Vol. 107. N 1. P. 41--47
Schonjahn C., Bamford M., Donohue L.A., Lewis D.B., Forder S., Munz W.-D. // Surf. Coat. Technol. 2000. Vol. 125. N 1--3. P. 66--70
Shum P.W., Li K.Y., Shen Y.G. // Surf. Coat. Technol. 2005. Vol. 198. N 1--3. P. 414--419
Wang D.-Y., Chang C.-L., Wong K.-W., Li Y.-W., Ho W.-Y. // Surf. Coat. Technol. 1999. Vol. 120--121. P. 388--394
Панин А.В., Казаченок М.С., Шугуров А.Р., Сергеев В.П. // ЖТФ. 2012. Т. 15. N 6. С. 44--52
Culliy B.D., Stock S.R. Elements of X-ray diffraction. 3^rd Edition. Prentice-Hall, NewJersey, USA, 2001. 664 p
Ikeda T., Satoh H. // Thin Solid Films. 1991. Vol. 195. P. 99--110
Zhou M., Makino Y., Nose M., Nogi K. // Thin Solid Films. 1999. Vol. 339. P. 203--208
Cammarata R.C., Eby R.K. // J. Mater. Res. 1991. Vol. 6. N 5. P. 888--890
Pelleg J., Zevin L.Z., Lungo S. // Thin Solid Films. 1991. Vol. 197. P. 117--128
Oh U.C., Je J.H., Lee J.Y. // J. Mater. Res. 1995. Vol. 10. N 3. P. 634--639
Myers M.T., Sencer B.H., Shao L. // Nucl. Instrum. Methods B. 2012. Vol. 272. P. 165--168
Xie F.Y., Gong L., Liu X., Tao Y.T., Zhang W.H., Chen S.H., Meng H., Chen J. // J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2012. Vol. 185. P. 112--118
Thornton J.A. // Ann. Rev. Mater. Sci. 1977. Vol. 7. P. 239--260
Мовчан Б.А., Демчишин А.В. // ФММ. 1969. Т. 28. N 4. С. 653--660
Cairney J.M., Harris S.G., Munroe P.R., Doyle E.D. // Surf. Coat. Technol. 2004. Vol. 183. P. 239--246
Martin P.J., Bendavid A., Netterfield R.P., Kinder T.J., Jahan F., Smith G. // Surf. Coat. Technol. 1999. Vol. 112. P. 257--260
Derfinger V., Brandle H., Zimmerman H. // Surf. Coat. Technol. 1999. Vol. 113. P. 286--292
Patscheider J., Zehnder T., Diserens M. // Surf. Coat. Technol. 2001. Vol. 146--147. P. 201--208.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель