Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Плавление тонкой пленки алюминия на диэлектрической подложке при воздействии мощного ионного пучка

Ковивчак В.С.¹, Панова Т.В.¹, Бурлаков Р.Б.¹

¹Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, Омск, Россия Dostoevsky Omsk State University, Omsk, Russia

Email: kvs@univer.omsk.su

Поступила в редакцию: 18 августа 2014 г.

Выставление онлайн: 20 мая 2015 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Исследовано воздействие мощного ионного пучка на тонкие пленки алюминия толщиной 0.3 и 1.9 mum, нанесенные на диэлектрические подложки из натрий- силикатного стекла и ситалла. Показаны основные этапы изменения поверхностной морфологии пленки, ее плавления и преобразования в массив отдельных частиц металла. Рассмотрены возможные механизмы наблюдаемых явлений.

Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками / Под ред. Дж.М. Поута и др. М.: Машиностроение, 1987. 424 с
Ковивчак В.С., Панова Т.В., Бурлаков Р.Б., Давлеткильдеев Н.А. // Письма в ЖТФ. 2008. Т. 34. Вып. 8. С. 85--91
Ковивчак В.С., Дубовик В.И., Бурлаков Р.Б. // Поверхность. 2008. N 4. С. 9--11
Goldstein J.I., Newbury D.E., Echlin P. et al. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. NY: Kluwer Acad. / Plenum Publ., 2003. 689 p
Буренков А.Ф., Комаров Ф.Ф., Кумахов М.А. и др. Таблицы параметров пространственного распределения ионно-имплантированных примесей. Минск, Белгосуниверситет, 1980. 352 с
Pushkarev A.I., Isakova Yu.I.б Khailov I.P. // Laser Part. Beams. 2013. Vol. 31. P. 493--501
Hwang S.-J., Nix W D., Joo Y-C. // Acta Mater. 2007. Vol. 55. P. 5297--5301
Ковивчак В.С., Панова Т.В., Михайлов К.А. // Поверхность. 2012. N 1. С. 73--76
Ковивчак В.С., Панова Т.В., Геринг Г.И. // Поверхность. 2007. N 4. С. 107--109

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель