Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2015, выпуск 4 » Статья стр. 52
<<<>>>
Исследование структуры и состава кремниевых микроструктур, подвергшихся циклическому внедрению и экстракции лития
Астрова Е.В., Ли Г.В., Парфеньева А.В., Румянцев А.М., Жданов В.В., Павлов С.И., Левицкий В.C., Теруков Е.И., Давыдов В.Ю.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 26 августа 2014 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2015 г.
PDF версия
Методами электронной микроскопии, энергодисперсионного рентгеновского микроанализа и комбинационного рассеяния света проведены исследования кремниевых анодов литий-ионных аккумуляторов, подвергшихся циклическим испытаниям разной длительности. Показано, что наблюдаемая деградация разрядной емкости электродов, созданных на основе макропористого кремния, обусловлена процессами механического разрушения кремниевых стенок и формирования аморфной фазы Si-Li, которые возникают уже на начальной стадии испытаний. Установлено, что число трещин и степень разупорядочения кристаллической решетки кремния нарастают с числом циклов литирования и характеризуются неоднородностью распределения по высоте стенок, что свидетельствует о преимущественном внедрении лития в верхнюю часть структуры, примыкающую к сепаратору. На основе анализа спектров комбинационного рассеяния света проведено сравнение степени разупорядочения кристаллической решетки литированных образцов со стандартным аморфным кремнием.
  1. Kasavajjula U., Wang Ch., John A. // J. Power Sources. 2007. Vol. 163. P. 1003--1039
  2. Ge M., Fang X., Rong J., Zhou C. // Nanotechnology. 2013. Vol. 24. P. 422 001 (10 pp)
  3. Кулова Т.Л., Скундин А.М., Плесков Ю.В., Коньков О.И., Теруков Е.И., Трапезникова И.Н. // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 4. С. 473--475
  4. Chan C.K., Peng H., Liu G., McIlwrath K., Zhang X.F., Huggins R.A., Cui Y. // Nat. Nanotechnol. 2008. Vol. 3. P. 31--35
  5. Foll H., Hartz H., Ossei-Wusu E.K., Carstensen J., Riemenschneider O. // Phys. Stat. Sol. RRL 2010. Vol. 4. P. 4
  6. Астрова Е.В., Федулова Е.Ф., Смирнова И.А., Ременюк А.Д., Кулова Т.Л., Скундин А.М. // Письма в ЖТФ. 2011. Т. 37. Вып. 15. С. 87--93
  7. Foll H., Carstensen J., Ossei-Wusu E., Cojocaru A., Quiroga-Gonzalez E., Neumann G. // J. the Electrochemical Society. 2011. Vol. 158. Р. A580--A584
  8. Lehmann V. Electrochemistry of Silicon. Weinheim: Wiley-VCH, 2002
  9. Черниенко А.В., Астрова Е.В., Жарова Ю.А. // Письма в ЖТФ. 2013. Т. 39. Вып. 22. С. 17--24
  10. Ли Г.В., Кулова Т.Л., Толмачев В.А., Черниенко А.В., Баранов М.А., Павлов С.И., Астрова Е.В., Скундин А.М. // ФТП. 2013. Т. 47. Вып. 9. С. 1288--1294
  11. Ein-Eli Y., Markovsky B., Aurbach D., Carmeli Y., Yamin H., Luski S. // Electrochim. Acta. 1994. Vol. 39. P. 2559--2569
  12. Ovsyannikov S.V., Shchennikov V.V., Ponosov Yu.S., Antonova I.V., Smirnov S.V. // Physica. B. 2008. Vol. 403. P. 3424--3428
  13. Unifantowicz P., Vaucher S., Lewandowska M., Kurzyd owski K.J. // J. Phys.: Condens. Matter. 2008. Vol. 20. N 2. P. 1--5
  14. Романов С.И., Смирнов Л.С. // ФТП. 1972. Т. 6. Вып. 8. C. 1631--1634
  15. Герасименко Н.Н., Двуреченский А.В. // ФТП. 1977. Т. 11. Вып. 1. С. 190--192
  16. Beeman D., Tsu R., Thorpe M.F. // Phys. Rev. B. 1985. Vol. 32. N 2. P. 874--878
  17. Danesh P., Pantchev B., Antonova K., Liarokapis E., Schmidt B., Grambole D., Baran J. // J. Phys. D. 2004. Vol. 37. P. 249-254
  18. Tsu R., Hernandez J.G., Pollak F.H. // J. Non-Cryst. Solids. 1984. Vol. 66. P. 109--114
  19. Li Zh., Li W., Jiang Ya, Cai H., Gong Yu., He J. // J. Raman Spectrosc. 2011. Vol. 42. P. 415--421
  20. Vink R.L.C., Barkema G.T., van der Weg W. F. // Phys. Rev. B. 2001. Vol. 63. P. 115210-1--115210-6
  21. Maley N., Beeman D., Lannin J.S. // Phys. Rev. B. 1988. Vol. 38. P. 10611--10622
  22. Liao N.M., Li W., Jiang Y.D., Kuang Y.J., Qi K.C., Wu Z.M., Li S.B. // Appl. Phys. A. 2008. Vol. 91. P. 349--353
  23. Marinov M., Zotov N. // Phys. Rev. B. 1997. Vol. 55. P. 2938--2944
  24. Liao N.M., Li W., Jiang Y.D., Wu Z.M., Li S.B., Liu Z., Li Z., Jin X., Chen Y.X. // J. Phys. D. 2008. Vol. 41. P. 205 412 (5pp)
  25. Li H., Huang X., Chen L., Zhou G., Zhang Z., Yu D., Mo Y.J., Pei N. // Solid State Ionics. 2000. Vol. 135. P. 181--191
  26. Obrovac M.N., Christensen L. // Electrochem. Solid-State Lett. 2004. Vol. 7. P. A93--A96
  27. Wei-Jun Zhang. // J. Power Sources. 2011. Vol. 196. P. 877--885

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme