Вышедшие номера
Особенности распада плазмы послесвечения импульсного разряда низкого давления в кислороде
Кудрявцев А.А.1, Куранов А.Л.1, Мишаков В.Г.1, Ткаченко Т.Л.1, Скобло И.Н.1, Чайка М.О.1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
Email: akud@ak2138.spb.edu
Поступила в редакцию: 24 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2001 г.

Выполнены исследования в слабоионизованной плазме послесвечения импульсного разряда в кислороде низкого давления (0.05-0.15 Torr). Проведена зондовая диагностика и выполнены измерения проводимости плазмы путем подачи дополнительного зондирующего импульса тока в нужный момент послесвечения. Для дополнительного контроля за поведением концентраций заряженных частиц проведены также измерения интенсивностей свечения спектральных линий. Измерения временного поведения концентрации электронов в плазме послесвечения кислорода, выполненные различными методами, подтверждают сделанный ранее вывод о обострении их диффузионного ухода из объема и образовании ион-ионной плазмы. Показана также возможность реализации противоположного предельного случая --- отлипательного режима распада с ростом концентрации электронов до концентрации положительных ионов на первой стадии и переходом к электрон-ионной плазме на второй стадии.
  1. Hopkins M.V., Bakal M., Graham W.G. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 70. P. 2009--2015
  2. Samukawa S., Ohtake H.E. // J. Vac. Sci. Technol. 1996. Vol. A14(6). P. 3049--3058
  3. Lieberman M.A., Ashida S. // Plasma Sources Sci. Technol. 1996. Vol. 5. P. 145--158
  4. Hayashi D., Kadota K. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83 (2). P. 697--702
  5. Кудрявцев А.А. Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. Вып. 17. С. 11--14
  6. Цендин Л.Д. // ЖТФ. 1985. Т. 55. N 12. С. 2318--2322
  7. Рожанский А.В., Цендин Л.Д. Столкновительный перенос в частично ионизованной плазме. М.: Энергоатомиздат, 1988. 248 с
  8. Smith D., Dean A.G., Adams N.G. // J. Phys. D. 1974. Vol. 7. P. 1944--1962
  9. Гуцев С.А., Кудрявцев А.А., Романенко В.А. // ЖТФ. 1995. Т. 65. Вып. 1. С. 77--85
  10. Режимы с обострением. Эволюция идеи. Сер. Кибернетика / Под ред. И.М. Макарова. М.: Наука, 1999. 255 с
  11. Месси Г. Отрицательные ионы. М.: Мир, 1979. 754 с
  12. Демидов В.И., Колоколов Н.Б., Кудрявцев А.А. Зондовые методы исследования низкотемпературной плазмы. М.: Энергоатомиздат, 1996. 238 с
  13. Sudit I.D., Woods R.C. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76 (8). P. 4488--4498
  14. Johnsen R., Shun'ko E.V., Gougousi T. // Phys. Rev. E. 1994. Vol. 50. N 5. P. 3994--4004
  15. Мак-Даниэль И. Процессы столкновений в ионизованных газах. М.: Мир, 1967. 832 с
  16. Герасимов Г.Н., Лягущенко Р.И., Старцев Г.П. // Опт. и спектр. 1971. Т. 30. N 4. С. 606--611
  17. Иванов В.А., Скобло Ю.Э. // ЖТФ. 1981. Т. 51. Вып. 7. С. 1386--1392
  18. Ishikawaa T., Hayashi D., Sasaki K., Kadota K. // Appl. Phys. Lett. 1998. Vol. 72. N 19. P. 2391--2393
  19. Gousset G., Ferreira C.M., Pinheiro M. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1991. Vol. 24. P. 290--300
  20. Кучинский В.В., Мишаков В.Г., Тибилов А.С., Шухтин А.М. // Опт. и спектр. 1975. Т. 34. N 6. С. 1043--1048
  21. Hayashi D., Kadota K. // Jpn. J. Appl. Phys. 1999. Vol. 38. P. 225--230
  22. Кудрявцев А.А., Цендин Л.Д. // Письма в ЖТФ. 2000. Т. 26. Вып. 13. С. 93--105
  23. Ivanov V.V., Klopovskiy K.S., Lopaev D.V. et al. // IEEE Trans. on Plasma Sci. 1999. Vol. 27. N 5. P. 1279--1287
  24. Цендин Л.Д. // ЖТФ. 1989. Т. 59. Вып. 1. С. 21--28

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.