Предложен новый метод приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии наночастиц, позволяющий достичь однослойного расположения наночастиц. Метод дает возможность разделения наночастиц по размерам и изучения влияния внешних полей на их расположение. Используемая технология может быть также применена для создания упорядоченных массивов наночастиц в сверхтонких полимерных пленках.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.