Вышедшие номера
Описание силовых поверхностей в атомно-силовой микроскопии с учетом подвижности атомов решетки
Благов Е.В.1, Климчицкая Г.Л., Мостепаненко В.М.1
1Исследовательско-внедренческое предприятие "Модус", Москва, Россия Северо-западный заочный политехнический институт, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 12 августа 1997 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1999 г.

Рассчитаны поверхности постоянной силы и профили горизонтальной составляющей силы при сканировании острия атомно-силового микроскопа над поверхностью решетки плотной упаковки в контактной моде с учетом подвижности атомов решетки. Показано, что при учете подвижности обнаруженные ранее разрывы на поверхности постоянной силы возникают при меньших силах сканирования острия над поверхностью, чем в приближении неподвижных атомов. Получены силовые поверхности, возникающие при сканировании над вакансией. Обсуждается возможность использования данных атомно-силовой микроскопии для диагностики точечных дефектов на поврехности твердого тела.