Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3 4
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Характеристики тонкопленочного датчика сканирующего магнитного микроскопа на основе сквида

Кириченко Д.Е.¹, Паволоцкий А.Б.¹, Прохорова И.Г.¹, Снигирев О.В.¹

¹Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия Lomonosov Moscow State University, Moscow, Russia

Поступила в редакцию: 30 июля 1998 г.

Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Приводятся описания конструкции, технологии изготовления и характеристики датчика сканирующего магнитного микроскопа (СММ) на основе тонкопленочного сквида постоянного тока с шунтируванными туннельными джозефсоновскими переходами Nb / Al₂O₃ / Nb. Показано, что при температуре образца 4.2 K пространственное разрешение данного датчика составляет 10 mum при разрешении по полю на уровне 70 pT/Hz^1/2.

Jeffery M., Van Duzer T., Kirtley J.R. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 1769--1771
Tsuei C.C., Kirtley J.R., Rupp M. et al. // Science. 1996. Vol. 271. P. 329
Ketchen M.B., Kirtley J.R., Bhushan M. // IEEE Trans. on Appl. Supercond. 1997. Vol. 7. N 2. P. 3139--3142
Kirichenko D.E., Pavolotskij A.B., Prokhorova I.G. et al. // Inst. Phys. Conf. Ser. N 158. Applied Superconductivity. IOP Publishing Ltd., 1997. P. 727--730
Tesche C.D., Clarke J. // J. Low Temp. Phys. 1977. Vol. 29. P. 301--331
Enpuku K., Koch H. // Jap. J. Appl. Phys. 1993. Vol. 32. P. 3811-3816
Enpuku K., Cantor R., Koch H. // J. Appl. Phys. 1992. Vol. 71. N 5. P. 2338--2346

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель