Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Характеристики тонкопленочного датчика сканирующего магнитного микроскопа на основе сквида
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия 
Поступила в редакцию: 30 июля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.
Приводятся описания конструкции, технологии изготовления и характеристики датчика сканирующего магнитного микроскопа (СММ) на основе тонкопленочного сквида постоянного тока с шунтируванными туннельными джозефсоновскими переходами Nb / Al2O3 / Nb. Показано, что при температуре образца 4.2 K пространственное разрешение данного датчика составляет 10 mum при разрешении по полю на уровне 70 pT/Hz1/2.
- Jeffery M., Van Duzer T., Kirtley J.R. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 1769--1771
- Tsuei C.C., Kirtley J.R., Rupp M. et al. // Science. 1996. Vol. 271. P. 329
- Ketchen M.B., Kirtley J.R., Bhushan M. // IEEE Trans. on Appl. Supercond. 1997. Vol. 7. N 2. P. 3139--3142
- Kirichenko D.E., Pavolotskij A.B., Prokhorova I.G. et al. // Inst. Phys. Conf. Ser. N 158. Applied Superconductivity. IOP Publishing Ltd., 1997. P. 727--730
- Tesche C.D., Clarke J. // J. Low Temp. Phys. 1977. Vol. 29. P. 301--331
- Enpuku K., Koch H. // Jap. J. Appl. Phys. 1993. Vol. 32. P. 3811-3816
- Enpuku K., Cantor R., Koch H. // J. Appl. Phys. 1992. Vol. 71. N 5. P. 2338--2346
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
