"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Характеристики тонкопленочного датчика сканирующего магнитного микроскопа на основе сквида
Кириченко Д.Е.1, Паволоцкий А.Б.1, Прохорова И.Г.1, Снигирев О.В.1
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 30 июля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.

Приводятся описания конструкции, технологии изготовления и характеристики датчика сканирующего магнитного микроскопа (СММ) на основе тонкопленочного сквида постоянного тока с шунтируванными туннельными джозефсоновскими переходами Nb / Al2O3 / Nb. Показано, что при температуре образца 4.2 K пространственное разрешение данного датчика составляет 10 mum при разрешении по полю на уровне 70 pT/Hz1/2.
  • Jeffery M., Van Duzer T., Kirtley J.R. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 1769--1771
  • Tsuei C.C., Kirtley J.R., Rupp M. et al. // Science. 1996. Vol. 271. P. 329
  • Ketchen M.B., Kirtley J.R., Bhushan M. // IEEE Trans. on Appl. Supercond. 1997. Vol. 7. N 2. P. 3139--3142
  • Kirichenko D.E., Pavolotskij A.B., Prokhorova I.G. et al. // Inst. Phys. Conf. Ser. N 158. Applied Superconductivity. IOP Publishing Ltd., 1997. P. 727--730
  • Tesche C.D., Clarke J. // J. Low Temp. Phys. 1977. Vol. 29. P. 301--331
  • Enpuku K., Koch H. // Jap. J. Appl. Phys. 1993. Vol. 32. P. 3811-3816
  • Enpuku K., Cantor R., Koch H. // J. Appl. Phys. 1992. Vol. 71. N 5. P. 2338--2346
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.