Вышедшие номера
Характеристики тонкопленочного датчика сканирующего магнитного микроскопа на основе сквида
Кириченко Д.Е.1, Паволоцкий А.Б.1, Прохорова И.Г.1, Снигирев О.В.1
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 30 июля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.

Приводятся описания конструкции, технологии изготовления и характеристики датчика сканирующего магнитного микроскопа (СММ) на основе тонкопленочного сквида постоянного тока с шунтируванными туннельными джозефсоновскими переходами Nb / Al2O3 / Nb. Показано, что при температуре образца 4.2 K пространственное разрешение данного датчика составляет 10 mum при разрешении по полю на уровне 70 pT/Hz1/2.