Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Импульсный метод измерения емкости полупроводниковых структур с использованием балластного конденсатора
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия 
Поступила в редакцию: 19 мая 1998 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1999 г.
Изложен простой в реализации метод измерения емкости полупроводниковых структур с помощью малых по амплитуде импульсов тока. Показано, что при использовании балластного конденсатора совместно с осуществлением процедуры градуировки точность описанного метода возможно значительно улучшить. Проведен детальный анализ влияния балластного конденсатора на процесс измерения.
- Chudobiak M.J. // Rev. Sci. Instr. 1995. Vol. 66. N 6. P. 3703--3705.
- Moore M.B. // MICRO'95 IREE Soc. Milsons Point. NSW (Australia), 1995. P. 186--188
- Шашкин И.В., Каретникова И.Р., Мюрель А.В. и др. // ФТП. 1997. Т. 31. Вып. 8. С. 926--930
- Романов О.В., Соколов М.А., Султанмагомедов С.Н. // Электрохимия. 1980. Т. 16. N 7. С. 935--943
- Монахов В.В., Уткин А.Б. // Вестн. СПбГУ. Сер. 4. 1997. Т. 3. N 18. С. 84--89
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
