Особенности применения фоторефрактивного метода для локального, бесконтактного определения коэффициента температуропроводности
Филатов А.Л.1
1Институт радиотехники и электроники Российской академии наук, Фрязино, Московская область, Россия
Поступила в редакцию: 2 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1998 г.
Основное отличие предложенного метода от ранее использовавшихся состоит в измененной схеме взаимного расположения луча накачки и зондирующего луча. В нем используются скрещивающиеся в объеме образца лучи. Этим достигается локальность измерений одноверменно с возможностью исследования любой точки образца. На основе анализа теоретических и экспериментальных результатов выявлены и объяснены основные различия в методиках определения коэффициента температуропроводности в диэлектриках и в полупроводниках.
- Patrick Echegut Mocroscopic Approach of Thermooptical Properties. 14th ECTP Conf. Lyon-Villeurbanne (France), 1996. P. 55
- Schwingel D., Taylor R., Wigren J. // Conference Book of 14th ECTP. Lyon-Volleurbanne (France), 1996. P. 101
- Filatov A., Mirgorodsky V., Sablicov V. // Semicond. Sci. Technol. 1993. Vol. 8. P. 694
- Dersch Helmut, Amer Nabil M. // Appl. Phys. Lett. 1985. Vol. 47. P. 292
- Mirgorodsky V.I., Orlova G.A., Filatov A.L. // Zh. Tekh. Fiz. 1992. Vol. 62. P. 180
- Миргородский В.И., Новичихин Е.В., Сабликов В.А. и др. // ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 1. С. 174--179
- Jellison G.E., Jr., Burke H.H. // J. Appl. Phys. 1986. Vol. 60. N 2. P. 841
- Dash W.C., Newman R. // Phys. Rev. 1955. Vol. 99. N 4. P. 1151--1155
- Григорьев И.В., Мейлихов Е.З. // Физические величины. Справочник. М.: Энергоиздат, 1991. 1232 с
- Кикоин И.К. // Таблицы физических величин. Справочник. М.: Атомиздат, 1976. 1006 с
- Olmstead M., Amer N., Kohn S. et al. // Appl. Phys. A. 1983. Vol. 32. P. 141--154
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
