Вышедшие номера
Система регистрации и анализа картин дифракции быстрых электронов на отражение
Гурьянов Г.М.1, Демидов В.Н.1, Корнеева Н.П.1, Петров В.Н.1, Самсоненко Ю.Б.1, Цырлин Г.Э.1
1Институт аналитического приборостроения Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 22 ноября 1995 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1997 г.

Описана эффективная и быстродействующая система регистрации и анализа картин дифракции быстрых электронов на отражение. Программное обеспечение, разработанное для данной системы, включает в себя три пакета программ: для работы в однооконном, четырехоконном и линейном режимах. Приведены примеры использования системы для контроля и исследования процессов роста полупроводниковых соединений A3B5 в методе молекулярно-пучковой эпитаксии. С использованием описанной системы обнаружен эффект периодического расщепления профилей дифракционных рефлексов при росте GaAs (100).