"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Влияние тепловой мощности атомарного потока Fe на формирование нанопленок Cu/Fe на Si (001)
Плюснин Н.И., Ильященко В.М., Китань С.А., Лин В.-Ч., Куо Ч.-Ч.1
1Национальный университет Сун Ят-Сена, Гаосюн, Тайвань
Email: plusnin@dvo.ru
Поступила в редакцию: 19 июля 2013 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2014 г.

Исследован рост прослойки Fe (1.5-14 ML) и пленки Cu (~5 ML) на прослойке Fe в условиях пониженной (1240oC) и повышенной (1400oC) температур источника Fe и при пониженной (900oC) температуре источника Cu. Исследования проведены с помощью электронной оже-спектроскопии, дифракции медленных электронов и атомно-силовой микроскопии. В качестве источников металлов использовали тонкие плолоски Fe и Cu на Ta-фольге. Показано, что до толщины 4-5 ML в пленке Fe на Si (001) идет формирование неравновесной двумерной фазы в виде плотноупакованных атомно-гладких наноостровков. А при толщине больше 4-5 ML неравновесная фаза Fe переходит к объемной фазе Fe и соответственно силицида FeXSi. При температурах источника Fe 1240 и 1400oC неравновесная фаза состоит из Fe и Si, сегрегированного на его поверхности, и соответственно из смеси Fe c Si. Рост Cu на неравновесных фазах Fe и Fe-Si идет в виде гладкого слоя Cu с сегрегированным сверху Si и соответственно в виде смеси Cu с Fe и Si. На объемных фазах Fe и FeXSi растут островки Cu с большими и соответственно меньшими размерами.
  • Quan J.J., Zhou X.W., Wadley H.N.G. // Surf. Sci. 2006. Vol. 600. P. 4537--4547
  • Hwang Ch., Lee D., Han S.W., Kang J.S. // J. Phys.: Condens. Mater. 2008. Vol. 20. P. 265 007
  • Carbibe C., Vescovo E., Rader O., Gudat W., Eberhardt W. // Phys. Rev. Lett. 1993. Vol. 71. P. 2805--2808
  • Mathias S., Ruffing A., Deicke F., Wiesenmayer M., Sakar I., Bihlmayer G., Chulkov E.V., Koroteev Yu.M., Echenique P.M., Bauer M., Aeschlimann M. // Phys. Rev. Lett. 2010. Vol. 104. P. 066 802
  • Brataas A., Kent A.D., Ohno H. // Nat. Mater. 2012. Vol. 11. P. 372--381
  • Kuhlmann N., Swoboda Ch., Vogel A., Matsuyama T., Meier G. Phys. Rev. B. 2013. Vol. 87. P. 104 409
  • Hiraki A. // J. ELectrochem. Soc. 1980. Vol. 127. P. 2662
  • Zhang J., Liu Ch., Shu Y., Fan J. // Appl. Surf. Sci. 2012. Vol. 261. P. 690--696
  • Garramone J.J., Abel J.R., Sitnitsky I.L., Moore R.L., La Bella V.P. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2009. Vol. 27. P. 2044
  • Benouattas N., Mosser A., Bouabellou A. // Appl. Surf. Sci. 2006. Vol. 252. P. 7572--7577
  • Tu W.-T., Wang Ch.-H., Huang Y.-Y., Lin W.-Ch. // J. Appl. Phys. 2011. Vol. 109. P. 023 908
  • Lin W.-Ch., Chang H.-Y., Hu Y.-C., Lin Y.-Y., Hsu C.-H., Kuo Ch.-Ch. // Nanotetchnology. 2010. Vol. 21. P. 015 606
  • Lin W.-Ch., Chang H.-Y., Lin Y.-Y., Hu Y.-C., Hsu C.-H., Kuo Ch.-Ch. // J. Appl. Phys. 2010. Vol. 107. P. 014 301
  • Heinrich B., Bland J.A.C. Ultrathin Magnetic Structures II. Berlin: Springer--Verlag, 1994. 350 p
  • Rossi G. // Surf. Sci. Rep. 1987. Vol. 7. P. 1--101
  • Zou W., Wadley H.N.G., Zhou X.W., Ghosal S., Kosut R., Brownell D. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2001. Vol. 19. P. 2414--2424
  • Zhou X.W., Wadley H.N.G., Johnson R.A., Larson D.J., Tabat N., Cerezo A., Petford-Long A.K., Smith G.D.W., Clifton P.H., Martens R.L., Kelly T.F. // Acta Mater. 2001. Vol. 49. P. 4005--4015
  • Nakayama T., Itaya S., Murayama D. // J. Phys. Conf. Ser. 2006. Vol. 38. P. 216--219
  • Lee S.-G., Chunga Y.-Ch. // J. Appl. Phys. 2009. Vol. 105. P. 034 902
  • Hong Zh.-H., Hwang S.-F., Fang T.-H. // J. Appl. Phys. 2008. Vol. 103. P. 124 313
  • Plusnin N.I., Milenin A.P., Iliyashenko V.M., Lifshits V.G. // Phys. Low-Dim. 2002. N 9/10. P. 129
  • Плюснин Н.И., Ильященко В.М., Китань С.А., Крылов С.В. // Письма в ЖТФ. 2007. Т. 33. Вып. 11. С. 79--86
  • Plusnin N.I., Galkin N.G., Lifshits V.G., Lobachev S.A. // Surf. Rev. Lett. 1995. Vol. 23. P. 439--449
  • Плюснин Н.И., Ильященко В.М., Китань С.А., Крылов С.В. // Поверхность: Рентгеновские, синхротронные и нейтральные исследования. 2009. N 9. С. 86--98
  • Celinski Z., Heinrich B. // J. Appl. PHys. 1991. Vol. 70. P. 5935
  • Monchesky T.L., Heinrich B., Urban R., Myrtle K., Klaua M., Kirschner J. // Phys Rev. B. 1999. Vol. 60. P. 10 242--10 251
  • Unguris J., Celotta R.J., Tulchinsky D.A., Pierce D.T. // Magn. Magn. Mater. 1999. Vol. 198--199. P. 396
  • Wallart X., Zeng H.S., Nus J.P., Dalmai G. // Appl. Surf. Sci. 1992. Vol. 56--58. P. 427--433
  • Grant J.T., Haas T.W. // Surf. Sci. 1970. Vol. 23. P. 347
  • Joyce B.A., Neave J.H. // Surf. Sci. 1971. Vol. 27. P. 499
  • Colavita E., De Crescenzi M., Papagno L., Scarmozzino R., Caputi L.S., Rosei R., Tosatti E. // Phys. Rev. B. 1982. Vol. 25. P. 2490
  • Gallego J.M., Miranda R. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. P. 1377
  • Crecelius G. // Appl. Surf. Sci. 1993. Vol. 65/66. P. 683
  • Gallego J.M., Garcia J.M., Alvarez J., Miranda R. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 46. P. 13 339--13 344
  • Rtihrnschopf K., Borgmann D., Wedler G. // Thin Sol. Films. 1996. Vol. 280. P. 171--177
  • Stolt L., Charai A., D' Heurle F.M., Fryer P.M., Harper J.M.E. // J. Vac. Sci. Technol. A. 1991. Vol 9. P. 1501
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.