Вышедшие номера
Компьютерное изучение устойчивости пленок алюминия, нагреваемых на листе графена
Галашев А.Е.1
1Институт промышленной экологии УрО РАН, Екатеринбург, Россия
Email: galashev@ecko.uran.ru
Поступила в редакцию: 14 мая 2013 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2014 г.

Методом молекулярной динамики исследовано поведение односторонней и двухсторонней моноатомных пленок алюминия на графене при нагревании от 300 до 3300 K. Атомы одностороннего покрытия сохраняются на графене до 3300 K, тогда как атомы двухстороннего покрытия покидают графен уже при 1800 K, что при дальнейшем повышении температуры приводит к увеличению горизонтальной и вертикальной составляющих коэффициента самодиффузии. Наиболее значительными в металлических пленках оказываются напряжения, создаваемые силами вертикального направления, которые в основном рассасываются к температуре 2300 K. Напряжения в графене, самые большие из которых сосредоточены в зоне формирования металлической пленки, значительно уменьшаются с ростом температуры.
  1. Daniel C., Mucklich F. // Appl. Surf. Sci. 2005. Vol. 242. P. 140--146
  2. Zakharchenko K.V., Fasolino A., Los J.H., Katsnelson M.I. // J. Phys.: Condens. Matter. 2011. Vol. 23. N 20. P. 202 202
  3. Geim A.K., Novoselov K.S. // Nature Mater. 2007. Vol. 6. N 3. P. 183--191
  4. Balandin A.A., Ghosh S., Bao W., Calizo I., Teweldebrhan D., Miao F., Lau C.N. // Nano Lett. 2008. Vol. 8. N 3. P. 902--907
  5. Seol J.H., Jo I., Moore A.L., Lindsay L., Aitken Z.H., Pettes M.T., Li X., Yao Z., Huang R., Broido D., Mingo N., Ruoff R.S., Shi L. // Sciense. 2010. Vol. 328. N 5975. P. 213--216
  6. Chanchani R., Hall P.M. // IEEE Compon., Hybrids, Manufact. Technol. 1988. Vol. 11. N 3. P. 427--432
  7. Lee S.H., Park M., Yoh J.J., Song H., Jang E.Y., Kim Y.H., Kang S., Yoo Y.S. // Appl. Phys. Lett. 2012. Vol. 101. N 24. P. 241 909
  8. Wang L., Travis J.J., Cavanagh A.S., Liu X., Koenig S.P., Huang P.Y., George S.M., Bunch J.S. // Nano Lett. 2012. Vol. 12. N 7. P. 3706--3710
  9. Nam Y., Lindvall N., Sun J., Park Y.W., Yurgens A. // Carbon. 2012. Vol. 50. N 5. P. 1987--1992
  10. Hanaoka Y., Hinode K., Takeda K., Kodama D. // Mater. Trans. 2002. Vol. 43. N 7. P. 1621--1623
  11. Cheong W.C.D., Zhang L.C. // Nanotechnology 2000. Vol. 11. P. 173--178
  12. Kim O. // Mol. Simul. 2005. Vol. 31. P. 115--121
  13. Morse P.M. // Phys. Rev. 1929. Vol. 34. N 1. P. 57--64
  14. Abell G.C. // Phys. Rev. B. 1985. Vol. 31. N 10. P. 6184--6196
  15. Tersoff J. // Phys. Rev. B. 1988. Vol. 37. N 12. P. 6991--6999
  16. Tersoff J. // Phys. Rev. Lett. 1988. Vol. 61. N 25. P. 2879--2882
  17. Tersoff J. // Phys. Rev. B. 1989. Vol. 39. N 8. P. 5566--5568
  18. Stuart S.J., Tutein A.V., Harrison J.A. // J. Chem. Phys. 2000. Vol. 112. N 14. P. 6472--6486
  19. Rafii-Tabar H. // Phys. Rep.: 2000. Vol. 325. N 6. P. 239--310
  20. Fang T.-H., Wu J.-H. // Comp. Mater. Sci. 2008. Vol. 43. P. 785--790
  21. Lee W., Jang S., Kim M.J., Myoung J.-M. // Nanotechnology 2008. Vol. 19. N 28. P. 285 701
  22. Berendsen H.J.C., Postma J.P.M., van Gunsteren W.F., DiNola A., Haak J.R. // J. Chem. Phys. 1984. Vol. 81. N 8. P. 3684--3690
  23. Норман Г.Э., Стегайлов В.В. // ЖЭТФ. 2001. Т. 119. N 5. С. 1011--1020
  24. Kuksin A.Y., Morozov I.V., Norman G.E., Stegailov V.V., Valuev I.A. // Mol. Simul. 2005. Vol. 31. N 14--15. P. 1005--1017
  25. Cole M.W., Cresp V.H., Dresselhaus M.S. // J. Phys.: Condens. Mater. 2010. Vol. 22. P. 33 420
  26. Sondheimer E.H. // Adv. Phys. 2001. Vol. 50. N 6. P. 499--537
  27. Максимов Е.Г., Саврасов Д.Ю., Саврасов С.Ю. // УФН. 1997. Т. 167. N 4. С. 353--376
  28. Reicha F.M., El Hiti M.A., Barna P.B. // J. Mater. Sci. 1991. Vol. 26. N 8. P. 2007--2014
  29. Давыдов С.Ю. // ФТТ. 2012. Т. 54. Вып. 4. С. 821--827
  30. White G.K., Collocott S.J. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1984. Vol. 13. N 4. P. 1251--1257

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.