Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2014, выпуск 2 » Статья стр. 92
<<<>>>
Термолюминесценция анион-дефектных монокристаллов оксида алюминия после высокодозного облучения наносекундными импульсами электронов
Никифоров С.В.1, Кортов В.С.1, Звонарев С.В.1, Моисейкин Е.В.1
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
Email: s.v.nikiforov@ustu.ru
Поступила в редакцию: 27 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 20 января 2014 г.
PDF версия
Исследовано влияние глубоких ловушек, заполняемых импульсным пучком электронов, на термолюминесценцию (ТЛ) дозиметрического пика при 450 K в анион-дефектных монокристаллах оксида алюминия. После заполнения глубоких ловушек дозиметрический пик ТЛ становится неэлементарным и характеризуется сложной зависимостью интенсивности ТЛ от температуры отжига кристаллов с чередующимися участками спада и роста. Проведен анализ влияния заселенности глубоких центров различной природы и энергетической глубины на изменение структуры дозиметрического ТЛ пика. Обосновано предположение, что в диапазонах температур 600-750 и 900-1000 K опустошаются преимущественно электронные ловушки, а при T=780-900 и свыше 1000 K - дырочные. Показана возможность использования ТЛ глубоких ловушек для высокодозной дозиметрии импульсных пучков электронов.
  1. Akselrod M.S., Kortov V.S., Kravetsky D.J., Gotlib V.I. // Radiat. Prot. Dosim. 1990. Vol. 32. P. 15-20
  2. Akselrod M.S., Lucas A.C., Polf J.C., McKeever S.W.S. // Radiat. Meas. 1998. Vol. 29. P. 391-399
  3. Akselrod M.S., Gorelova E.A. // Nucl. Tracks Radiat. Meas. 1993. Vol. 21. P. 143-146
  4. Мильман И.И., Кортов В.С., Никифоров С.В. // ФТТ. 1998. Т. 40. Вып. 2. С. 229-234
  5. Kortov V.S., Milman I.I., Nikiforov S.V. // Rad. Prot. Dosim. 1999. Vol. 84. N 1-4. P. 35-38
  6. Yukihara E.G., Whitley V.H., Polf J.C., Klein D.M., McKeever S.W.S., Akselrod A.E., Akselrod M.S. // Radiat. Meas. 2003. Vol. 37. P. 627-638
  7. Nikiforov S.V., Kortov V.S. // Radiat. Meas. 2010. Vol. 45. P. 527-529
  8. Nikiforov S.V., Milman I.I., Kortov V.S. // Radiat. Meas. 2001. Vol. 33. P. 547-551
  9. Кортов В.С., Мильман И.И., Никифоров С.В., Моисейкин Е.В. // ФТТ. 2006. Т. 48. Вып. 3. С. 421-426
  10. Kortov V.S., Milman I.I., Nikiforov S.V. // Radiat. Prot. Dosim. 2002. Vol. 100. P. 75-78
  11. Кортов В.И., Мильман И.И., Никифоров С.В. Способ обработки вещества твердотельного детектора ионизирующих излучений на основе оксида алюминия. Патент РФ N 2229145. Приоритет от 03.02.2003
  12. Milman I.I., Moiseykin E.V., Nikiforov S.V., Mikhailov S.G., Solomonov V.I. // Radiat. Meas. 2004. Vol. 38. P. 443-446
  13. Yukihara E.G., Whitley V.H., McKeever S.W.S., Alselrod A.E., Akselrod M.S. // Radiat. Meas. 2004. Vol. 38. P. 317-330
  14. Мильман И.И., Моисейкин Е.В., Никифоров С.В., Соловьев С.В., Ревков И.Г., Литовченко Е.Н. // ФТТ. 2008. Т. 50, Вып. 11. С. 1991-1995
  15. Weinstein I.A., Pelenev V.E., Kortov V.S., Orozbek Askar. // Phys. Stat. Sol. C. 2005. Vol. 2. N 1. P. 523-526
  16. Soni A., Mishra D.R., Bhatt B.C., Gupta S.K., Rawat N.S., Kulkarni M.S., Sharma D.N. // Radiat. Meas. 2012. Vol. 47. P. 111-120
  17. Афанасьев В.Н., Бычков В.Б., Ларцев В.Д., Пудов В.П., Соломонов В.И., Шунайлов С.А., Генералова В.В., Громов А.А. // ПТЭ. 2005. N 5. С. 88-92
  18. Мильман И.И., Никифоров С.В., Кортов В.С., Кильметов А.К. // Дефектоскопия. 1996. N 11. С. 64-70
  19. Бессонова Т.С., Станиславский М.П., Хаимов-Мальков В.Я. // Изв. АН СССР. Сер. Неорг. материалы. 1980. Т. 16. N 11. С. 1961-1965
  20. Chen R., McKeever S.W.S. Theory of Thermoluminescence and Related Phenomena. Singapure: World Scientific, 1997. 560 p
  21. Мильман И.И., Кортов В.С., Кирпа В.И. // ФТТ. 1995. Т. 37. Вып. 4. С. 1149-1159
  22. Akselrod A.E., Akselrod M.S. // Radiat. Prot. Dosim. 2002. Vol. 100. N 1-4. P. 217-220

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme