Излагаются результаты исследования дифракции волноводных мод на планарных голографических решетках (ГР), формируемых посредством фоторефрактивной записи в оптических волноводах на ниобате лития. Приводятся расчетные зависимости интегралов перекрытия от периода ГР в волноводах на Y- и Z-срезах кристалла при взаимодействии TE-мод с одинаковым номером в случае преобладания фотогальванического механизма записи. Представлены результаты эксперимента по определению эффективных фотогальванических констант для планарных и объемных ГР с различным периодом.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.