Построена статистическая динамическая теория дифракции на гармонической сверхрешетке. Модель сверхрешетки, помимо среднестатистического периодического профиля деформации, предполагает наличие случайных смещений атомов за счет флюктуации концентрационного состава или присутствия микродефектов. Основными параметрами теории являются статический фактор Дебая-Валлера и корреляционная длина. Анализируется дифракция в модулированном кристалле с однородно распределенными микродефектами для наиболее простых корреляционных функций. Корреляционная длина сверхрешетки выражается через функции Бесселя. Обсуждается случай малых амплитуд модуляции. Проведены численные расчеты кривых дифракционного отражения сверхрешетки Al_xGa_1-xAs на толстой подложке GaAs в зависимости от значения статического фактора. Показано влияние диффузного рассеяния на форму основного максимума и первого сателлита сверхрешетки.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.