Модель возникновения N-образной стационарной вольт-амперной характеристики нано-металл--изолятор--металл диода с углеродистой активной средой
Мордвинцев В.М.1, Левин В.Л.1
1Институт микроэлектроники РАН, Ярославль, Россия
Поступила в редакцию: 27 марта 1995 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1996 г.
На основании предложенного ранее механизма формирования N-образной вольт-амперной характеристики (ВАХ) МИМ диода с углеродистой активной средой, имеющего нанометровый изолирующий зазор, рассматривается физическая и математическая модель процессов, происходящих в такой структуре в стационарной ситуации. Анализируются различные приближения и их влияние на форму ВАХ. Рассчитаны зависимости ряда величин, характеризующих МИМ диод, от напряжения на структуре при различных параметрах зазора и углеродистого материала, варьируемых вблизи физически разумных значений. Показано хорошее качественное согласие расчетных ВАХ с имеющимися в литературе экспериментальными данными.
- Pagnia H., Sotnik N. Phys. Stat. Sol. (a). 1988. Vol. 108. N 11. P. 11--65
- Мордвинцев В.М., Левин В.Л. ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 12. С. 88--100
- Мордвинцев В.М., Левин В.Л. ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 4. С. 124--134
- Симмонс Дж.Г. Туннельные явления в твердых телах. Пер. с англ./ Под ред. В.И. Переля. М.: Мир, 1973. С. 131--142
- Елецкий А.В., Смирнов Б.М. УФН. 1985. Т. 147. Вып. 3. С. 459-484
- Robertson J., O'Reilly E.P. Phys. Rev. B. 1987. Vol. 35. N 6. P. 2946--2957
- Angus John C. Thin Solid Films. 1992. Vol. 216. N 1. P. 126--133
- Тареев Б.М. Физика диэлектрических материалов М.: Энергия, 1973. 328 с
- Карслоу Г., Егер Д. Теплопроводность твердых тел. М.: Наука, 1964. 487 с
- Ландау Л.В., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1982. 620 с
- Шкловский Б.М., Эфрос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников М.: Наука, 1979. 416 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
