Расчет спектров полного тока и вторичной электронной эмиссии при облучении кремния медленными электронами
Панченко О.Ф.1, Шаталов В.М.1
1Донецкий физико-технический институт
Поступила в редакцию: 12 ноября 1992 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1993 г.
Рассчитаны спектры полного тока (СПТ) и спектры вторичной электронной эмиссии с угловым разрешением (СВЭЭУР) монокристалла Si по нормали к поверхностям (100), (110) и (111). При этом учитывались энергетическая зависимость уширения зонных уровней энергии, электрон-электронный вклад в функцию заполнения состояний, изотропная компонента тока от электронов, рассеянных на поверхности. Показано, что тонкая структура спектров обусловлена главным образом электронным строением конечных состояний, в которые попадают или из которых происходит эмиссия электронов. Развиваемый метод позволяет непосредственно восстанавливать особенности расположения зон в законе дисперсии электронов из экспериментальных данных и отделить объемные эффекты в спектрах от поверхностных.
- \advance\baselineskip by 0pt plus 0.3dd minus 0.1dd \commes\smallskip
- Комолов С.А. Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности. Л., 1986.180 с
- Строков В.Н., Комолов С.А. Вестник ЛГУ. Сер. 4. Физ., хим. 1989. Вып. 4 (N 25). С. 81--86
- Строков В.Н., Штанько А.В., Комолов С.А. Вестн. ЛГУ. Сер. 4. Физ., хим. 1990. Вып. 1 (N 4). С. 7--13
- Кораблев В.В., Кудинов Ю.А. Изв. АН СССР. Сер. физ. 1985. Т. 49. N 9. С. 1775--1778
- Кораблев В.В., Кудинов Ю.А., Сысоев С.Н. ФТТ. 1987. Т. 29. Вып. 3. С. 702--705
- Шаталов В.М., Панченко О.Ф., Перлов А.Я., Силантьев В.И., Шевченко Н.А. Металлофизика. 1992. Т. 14. N 1. С. 88--93
- Артамонов О.М., Виноградов А.Г., Панченко О.Ф. и др. ФТТ. 1989. Т. 31. Вып. 1. С. 57--61
- Emerson L.C., Birkhoff R.D., Anderson V.E., Ritchie R.H. Phys. Rev. B. 1973. Vol. 7. N 5. P. 1798--1811
- Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Квантовая механика. Нерелятивистская теория. М.: Наука, 1974. 752 с
- Shatalov V.M., Panchenko O.F. Sol. St. Commun. 1989. Vol. 69. N 9. P. 937--940
- Панченко О.Ф., Шаталов В.М. ЖЭТФ. 1987. Т. 93. Вып. 1(7). С. 222--230
- Комолов С.А., Панченко О.Ф., Шаталов В.М. ФТТ. 1992. Т. 34. Вып. 4. С. 1259--1262
- Дехтяр И.Я., Меламед Б.Я., Силантьев В.И., Шевченко Н.А. Поверхность. Физ., хим., мех. 1982. N 8. С. 55--62
- Силантьев В.И., Шевченко Н.А., Меламед Б.Я. УФЖ. 1979. Т. 24. N 8. С. 1227--1229
- Комолов С.А. ЖТФ. 1981. Т. 51. Вып. 9. С. 1909--1913
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук