Моделирование процесса заряжения диэлектриков при электронном облучении с помощью электрических цепей
Куликов В.Д.1, Лисюк Ю.В.1
1Томский политехнический институт им.С.М.Кирова
Поступила в редакцию: 17 августа 1992 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1993 г.
Рассмотрен механизм заряжения диэлектрика импульсным электронным пучком и выбрана эквивалентная схема, описывающая токи, протекающие в образце. Приведены результаты численного моделирования процесса накопления заряда с помощью эквивалентных схем. Показано удовлетворительное совпадение экспериментальных результатов с расчетными для таких параметров электризации материала, как токи, протекающие в цепи заряжения диэлектрика, пространственное распределение поля и заряда в облученном образце. Предложен и реализован численный метод решения дифференциального уравнения второго порядка.
- Громов В.В. Электрический заряд в облученных материалах. М.: Энергоиздат, 1982. 112 с
- Розно А.Г., Громов В.В. Химия высоких энергий. 1983. N 3. С. 223--232
- Громов В.В. Изв. АН ЛатвССР. Сер. физ. и техн. наук. 1987. N 4. С. 87--94
- Тютнев А.П., Ванников А.В., Мингалеев Г.С., Саенко В.С. Электрические явления при облучении полимеров. М.: Атомиздат, 1987. 87 с
- Matsuoka S., Sunaga H., Tanaka R. et al. IEEE Trans. Nucl. Sci. 1976. Vol. NS-23. N 5. P. 1447--1452
- Куликов В.Д. Изв. АН ЛатвССР. Сер. физ. и техн. наук. 1990. N 5. С. 97--105
- Куликов В.Д., Лисицын В.М. Деп. в ВИНИТИ. N 7202-В. 11.10.85
- Тамм И.Е. Основы теории электричества. М.: Наука, 1976. 616 с
- Дергабузов К.А., Евдокимов О.Б., Кононов Б.А. Тр. Межвузовской конф. по радиационной физике. Томск, 1970. С. 347--349
- Куликов В.Д., Лисицын В.М. ЖТФ. 1983. Т. 53. Вып. 12. С. 2417--2419
- Ваисбурд Д.И., Месяц Г.А., Бутков В.В. Изв. АН ЛатвССР. Сер. физ. и техн. наук. 1987. N 5. С. 62--67
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук