Способы оценки толщины осадков на поверхности охлаждаемых оптических элементов в вакуумных условиях с источниками загрязнения
Калашников Е.В.1, Калашникова С.Н.1
1Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем, Сосновый Бор, Ленинградская область, Россия
Email: evk5577@yandex.ru
Поступила в редакцию: 27 декабря 2011 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2012 г.
Описан простой способ оценки загрязнения (толщины и скорости роста слоя осадков) поверхностей элементов оптической системы, используемой в вакуумных условиях. Приведены экспериментальные результаты физического моделирования загрязнения бортовой оптики космического аппарата на орбите в условиях наличия собственной внешней атмосферы и сделано сравнение экспериментальных результатов с расчетными значениями. Результаты работы могут быть использованы при криостатировании оптических элементов в остаточной атмосфере вакуумной камеры.
- Акишин А.И. Космическое материаловедение. М.: НИИЯФ МГУ, 2007. 209 с
- Дмитриев И.Ю., Мирзоева Л.А., Воронич В.Б. и др. // Опт. журнал. 1998. Т. 65. N 12. С. 102--105
- Калашников Е.В., Рачкулик С.Н. // Опт. журн. 2008. Т. 75. N 12. С. 73--80
- Левин Г. Основы вакуумной техники. М.: Энергия, 1969. 272 c
- Физические величины. Справочник / Под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова. 1991. М.: Энергатомиздат. 1232 с
- Акишин А.И., Новиков Л.С. Методика и оборудование имитационных испытаний материалов космических аппаратов. М.: МГУ, 1990. 89 с
- Зацепина Г.Н. Свойства и структура воды. М.: МГУ, 1974. 167 с
- Коломийцов Ю.В. Интерферометры. Л.: Машиностроение, 1976. 296 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук