Вышедшие номера
Ван-дер-Ваальсова поверхность InSe как возможный стандарт нанорельефа в метрологии нанообъектов
Дмитриев А.И.1
1Институт проблем материаловедения им. И.Н. Францевича Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Email: dmitr@ipms.kiev.ua
Поступила в редакцию: 26 июля 2011 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2012 г.

Интенсивное развитие нанотехнологии требует создания системы метрологического обеспечения измерений в первую очередь эталона длины в нанометровом диапазоне, что включает создание и использование стандартов нанорельефа поверхности. Одним из типов стандартов является периодическое расположение атомов в кристаллической решетке монокристалла. С этой целью удобно использовать сколы слоистых кристаллов. Скол слоистого полупроводника InSe представляет собой Ван-дер-Ваальсову поверхность. Она имеет высокую химическую стабильность, низкую шероховатость поверхности, легко формируется скалыванием, имеет протяженные атомарно-гладкие участки высоко упорядоченной ромбоэдрической решетки с периодом элементарной ячейки a=0.4003 nm и может быть использована, аналогично высокоориентированному пиролитическому графиту, в качестве стандарта нанорельефа.