Вышедшие номера
Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba0.8Sr0.2TiO3
Широков В.Б., Головко Ю.И., Мухортов В.М.1
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
Email: shirokov-vb@rambler.ru
Поступила в редакцию: 27 июня 2011 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2012 г.

Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.
  1. Wessels B.W. // Annu. Rev. Mater. Res. 2007. Vol. 37. P. 659
  2. Im J., Auciello O., Baumann P.K., Streiffer S.K., Kaufman D.Y., Krauss A.R. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 76. P. 625
  3. Huang C.-L., Chen Y.-C. // Mater. Sci. Eng. 2003. Vol. A345. P. 106
  4. Synowicki R.A. // Thin Sol. Films. 1998. Vol. 313. P. 394
  5. Chen K.H., Hsu C.C., Su D.C. // Appl. Phys. B: Lasers Opt. 2003. Vol. 77. P. 839
  6. Swanepoel R. // J. Phys. E: J. Sci. Instrum. 1983. Vol. 16. P. 1214
  7. Nenkov M., Pencheva T. // J. Opt. Soc. Am. 1998. Vol. A15. P. 1852
  8. Li S.Z., Yang Y.Q., Liu L., Liu W.C., Wang S.B. // Phys. B. 2008. Vol. 403. P. 2618
  9. Wang D.Y., Li S., Chan H.L.W., Choy C.L. // Appl. Phys. Lett. 2010. Vol. 96. P. 061 905
  10. Aulika I., Pokorny J., Zauls V., Kundzins K., Rutkis M., Petzelt J. // Opt. Mater. 2008. Vol. 30. P. 1017
  11. Мухортов В.М., Маматов А.А., Зеленчук П.А., Головко Ю.И., Бирюков С.В., Масычев С.И. // Нанотехника. 2007. Т. 3. С. 59
  12. Жигалина О.М., Кускова А.Н., Чувилин А.Л., Мухортов В.М., Головко Ю.И. // Поверхность. 2009. Т. 7. С. 55
  13. Park B.H., Gim Y., Fan Y., Jia Q.X., Lu P. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 77. P. 2587
  14. Stenzel O. The Physics of Thin Film Optical Spectra. An Introduction. Berlin: Springer, 2005. 276 p
  15. Jundt D.H. // Opt. Letters. 1997. Vol. 22. P. 1553
  16. Erman M., Theeten J.B., Chambon P., Kelso S.M., Aspnes D.E. // J. Appl. Phys. 1984. Vol. 56. P. 2664
  17. Командин Г.А., Волков А.А., Спектор И.Е., Воротилов К.А., Мухортов В.М. // ФТТ. 2009. Т. 51. С. 1280
  18. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М: ГИТТЛ, 1957. 532 с
  19. Cardona M. // Phys. Rev. 1965. Vol. 140. P. A651
  20. Pontes F.M., Leite E.R., Pontes D.S.L., Longo E., Santos E.M.S., Mergulhao S., Pizani P.S., Lanciotti F. Jr., Boschi T.M., Varela J.A. // J. Appl. Phys. 2002. Vol. 91. P. 5972
  21. Wemple S.H., Didomenico M. // Phys. Rev. B. 1971. Vol. 3. P. 1338

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.