Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2012, выпуск 4 » Статья стр. 131
<<<>>>
Радиационная стойкость широкозонного материала на примере SiC-детекторов ядерного излучения
Иванов А.М.1, Строкан Н.Б.1, Лебедев А.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: alexandr.ivanov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 30 июня 2011 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2012 г.
PDF версия
При значительных концентрациях радиационных дефектов для детекторов на основе широкозонных материалов характерен эффект поляризации. Появление в объеме детектора ЭДС связано с долговременным захватом носителей заряда на глубокие уровни радиационных центров. Экспериментально установлены характер кинетики и величина напряженности поля поляризации. Повышением температуры возможно регулировать захват и достичь при "оптимальной" температуре компромисса между величиной генерационного тока и положением наиболее глубокого из уровней, чей вклад в потери заряда путем захвата носителей пренебрежимо мал. Оказалось, что глубина такого рода уровня (отнесенная к ширине запрещенной зоны) близка к значению 1/3 независимо от материала. Значения температур для материалов строго индивидуальны.
  1. Винецкий В.Л., Холодарь Г.А. Статистическое взаимодействие электронов и дефектов в полупроводниках. Киев: Наукова Думка, 1969. 187 с
  2. Lebedev A.A., Vienger A.I., Kozlovski V.V., Davydov D.V., Savkina N.S., Strelchuk A.M. // J. Appl. Phys. 2000. Vol. 88. N 11. P. 6265--6271
  3. Castaldini A., Cavallini A., Rigutti L., Nava F., Ferrero S., Giorgis F. // J. Appl. Phys. 2005. Vol. 98. P. 053 706
  4. Иванов А.М., Лебедев А.А., Строкан Н.Б. // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 10. С. 1259--1263
  5. Иванов А.М., Строкан Н.Б., Богданова. Е.В., Лебедев А.А. // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 1. С. 117--121
  6. Иванов А.М., Строкан Н.Б., Лебедев А.А. // ФТП. 2008. Т. 42. Вып. 9. С. 1135--1139
  7. Ivanov A.M., Strokan N.B., Lebedev A.A. // Nucl. Instr. Meth. A. 2008. Vol. 597. N 2--3. P. 203--206
  8. Hecht K. // Zeitschrift Fur Physik. 1932. Vol. 77. P. 235--241
  9. Иванов А.М., Садохин А.В., Строкан Н.Б., Лебедев А.А. // ФТП. 2011. Т. 45. Вып. 10. С. 1422--1426
  10. Castaldini A., Cavallini A., Fabbri F., Nava F., Errani P., Cindro V. // Proc of the 8th Workshop. Prague, 2006. http://rd50.web.cern.ch/rd50/
  11. Ivanov P.A., Levinshtein M.E., Palmour J.W., Rumyantsev S.L., Singh R. // Semicond. Sci. Technol. 2000. Vol. 15. P. 908--910
  12. Katsunori D., Tsunenobu K. // J. Appl. Phys. 2006. Vol. 100. P. 113 728
  13. Тихомирова В.А., Федосеева О.П., Холуянов Г.Ф. // Атомная энергия. 1973. Т. 34. Вып. 2. С. 122--125
  14. Rainer S. Wallny. // Nucl. Instr. Meth. A. 2007. Vol. 582. P. 824--828
  15. Cristinziani M. // Nucl. Instr. Meth. A. 2010. Vol. 623. P. 174--176.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme