Вышедшие номера
Исследование слоев нанокомпозита пористый кремний-оксид олова с помощью метода спектральной эллипсометрии
Болотов В.В.1, Давлеткильдеев Н.А.1, Коротенко А.А.1, Росликов В.Е.1, Стенькин Ю.А.1
1Омский филиал Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Омск, Россия
Email: nadim@obisp.oscsbras.ru
Поступила в редакцию: 6 октября 2010 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2011 г.

С помощью метода спектральной эллипсометрии исследовано послойное распределение компонентов в нанокомпозите пористый кремний-оксид олова, полученном тремя методами: химического парофазного осаждения, молекулярного наслаивания и магнетронного распыления. Показано, что в нанокомпозитах, сформированных данными методами, SnOx проникает на глубину более 400 nm и неравномерно распределяется по толщине пористого слоя. Наибольшей глубиной проникновения и однородностью послойного распределения SnOx характеризуется нанокомпозит, полученный по методу магнетронного распыления с дополнительной термообработкой.