Вышедшие номера
Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения
Биленко Д.И.1, Сагайдачный А.А.1, Галушка В.В.1, Полянская В.П.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: bil@sgu.ru
Поступила в редакцию: 28 мая 2009 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2010 г.

Исследованы возможности многопараметрового определения свойств структур на основе данных о зависимости коэффициентов отражения поляризованного излучения Rp, Rs и отношения Rp/Rs от угла падения theta, а также на основе угловой зависимости 1/Rp(Delta R/Deltatheta). Данные натурных и вычислительных экспериментов показали высокую чувствительность угловой зависимости коэффициента отражения Rp(theta) к значениям оптических констант и толщине слоистых структур. Количественные результаты многопараметровых измерений проверены независимым методом спектральной эллипсометрии. Установлены возможности многопараметрового определения свойств и толщины нанометровых диэлектрических, металлических и полупроводниковых слоев на различных подложках и свойств подложек в таких структурах.