Структурные особенности и электронные свойства углеродных наностенок
Russian Science Foundation, 25-72-31032
Исмагилов Р.Р.1,2, Клещ В.И.1,2, Образцова Е.А.1,3, Образцов А.Н.1,2, Свирко Ю.П.1
1Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта, Калининград, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
3Московский физико-технический институт (Государственный университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия

Email: ismagil@polly.phys.msu.ru
Поступила в редакцию: 29 июля 2026 г.
В окончательной редакции: 3 августа 2026 г.
Принята к печати: 1 сентября 2026 г.
Выставление онлайн: 16 октября 2026 г.
Исследованы особенности наностенок, имеющих нанометровую толщину и поперечные размеры микрометрового масштаба. С помощью просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения выявлено, что на кромках углеродных наностенок параллельно расположенные слои графена попарно соединены друг с другом. Образующаяся при этом петлеобразная атомная структура обеспечивает увеличение механической стабильности наностенок за счет дополнительной прочной связи между слоями и химической инертности за счет отсутствия оборванных связей. Сравнение спектров энергетических потерь электронов, полученных для различных областей наностенок, показывает, что электронные свойства их атомной структуры аналогичны графиту за исключением кромок пластинчатых кристаллитов, в которых наблюдается повышенная концентрация атомов с алмазным типом гибридизации атомных орбиталей. Выявленные закономерности структуры имеют важное значение для объяснения особенностей электронных свойств и разработки методов применения пленок, состоящих из углеродных наностенок в электронике, оптоэлектронике, электрохимии и других областях. Ключевые слова: CVD, углеродные наностенки, оборванные связи, алмазный тип гибридизации атомных орбиталей.
- D.C. Elias, R.R. Nair, T.M.G. Mohiuddin, S.V. Morozov, P. Blake, M.P. Halsall, A.C. Ferrari, D.W. Boukhvalov, M.I. Katsnelson, A.K. Geim, K.S. Novoselov. Science 323, 610 (2009). DOI: 10.1126/science.1167130
- A. Fasolino, J.H. Los, M.I. Katsnelson. Nat. Mater. 6, 858 (2007). DOI: 10.1038/nmat2011
- Л.Н. Сидоров, М.А. Юровская, А.Я. Борщевский, И.В. Трушков, И.Н. Иоффе. Фуллерены. Издательство " Экзамен", М. (2005). 688 с
- И.И. Кулакова, Г.В. Лисичкин. Химия наноуглеродов. Графен, нанотрубки, наноалмаз. ТЕХНОСФЕРА, М. (2025). 368 с
- M. Hiramatsu, M. Hori. Cabon Nanowalls. Synthesis and Emerging Applications. Springer (2010). 168 c
- Y. Ando, X. Zhao, M. Ohkohchi. Carbon 35, 1, 153 (1997)
- S.K. Srivastava, A.K. Shukla, V.D. Vankar, V. Kumar. Thin Solid Films 492, 1-2, 124 (2005)
- А.Н. Образцов, А.П. Волков, И.Ю. Павловский. Механизм холодной эмиссии электронов из углеродных материалов. ПЖЭТФ 68, 1, 56 (1998)
- V.I. Kleshch, R.R. Ismagilov, V.V. Mukhin, A.S. Orekhov, A.S. Filatyev, A.N. Obraztsov. Nanotechnology 33, 415201 (2022). DOI: 10.1088/1361-6528/ac7def
- P.A. Obraztsov, G.M. Mikheev, S.V. Garnov, A.N. Obraztsov, Yu.P. Svirko. Appl. Phys. Lett. 98, 091903 (2011). DOI:10.1063/1.3559928
- T.V. Magdesieva, P.V. Shvets, O.M. Nikitin, E.A. Obraztsova, F.T. Tuyakova, V.G. Sergeyev, A.R. Khokhlov, A.N. Obraztsov. Carbon 105, 96 (2016). DOI: 10.1016/j.carbon.2016.04.028
- L. Golubewa, H. Rehman, T. Kulahava, R. Karpicz, M. Baah, T. Kaplas, A. Shah, S. Malykhin, A. Obraztsov, D. Rutkauskas, M. Jankunec, I. Matulaitiene, A. Selskis, A. Denisov, Yu. Svirko, P. Kuzhir. Sensors 20, 5028 (2020). DOI:10.3390/s20185028
- X. Jia, J. Campos-Delgado, E.E. Gracia-Espino, M. Hofmann, H. Muramatsu, Y.A. Kim, T. Hayashi, M. Endo, J. Kong, M. Terrones, M.S. Dresselhaus. J. Vac. Sci. Technol. B 27, 1996 (2009). DOI: 10.1116/1.3148829
- D.A. Bandurin, S. Mingels, V.I. Kleshch, D. Lutzenkirchen-Hecht, G. Muller, A.N. Obraztsov. App. Phys. Lett. 106, 233112 (2015). DOI: 10.1063/1.4922550
- A.N. Obraztsov, V.I. Kleshch, E.A. Smolnikova. Beilstein J. Nanotechnol. 4, 493, (2013). DOI:10.3762/bjnano.4.58
- H. Hiura, T.W. Ebbesen, J. Fujita, K. Tanigaki, T. Takada. Nature 367, 148 (1994)
- А.Н. Образцов, Е.А. Образцова, А.А. Золотухин, А.В. Тюрнина. ЖЭТФ 133, 3, 654 (2008)
- К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун. Электронограммы и их интерпретация. " Мир", М. (1971). 256 с
- Г. Томас, М.Дж. Гориндж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов. " Наука", М. (1983). 320 с
- S.D. Berger, D.R. McKenzie, P.J. Martin. Philos. Mag. Lett. 57, 285 (1988)
- S.R.P. Silva, V. Stolojan. Thin Solid Films, 488, 283 (2005). DOI: 10.1016/j.tsf.2005.04.025
- J.T. Titantah, D. Lamoen. Phys. Rev. B 70, 075115 (2004). DOI: 10.1103/PhysRevB.70.075115
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.