Вышедшие номера
Исследование структуры и электрических свойств нанокомпозитных пленок WxSi1-x
Совет по грантам Президента Российской Федерации, Грант Президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых российских ученых - кандидатов наук, МК-2926.2022.1.2
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, В рамках государственного задания ВУЗам в сфере научной деятельности на 2020-2022 годы, FZGU-2020-0036
Хыдырова С. 1, Михайлова И.В.1, Васильев Д.Д. 1, Моисеев К.М. 1, Барков К.А. 2, Ивков С.А. 2, Буйлов Н.С. 2, Керсновский Е.С.2
1Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия
2Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
Email: hydyrova.selbi@yandex.ru, d.d.vasiliev@bmstu.ru, k.moiseev@bmstu.ru, barkov@phys.vsu.ru, ivkov@phys.vsu.ru, hydyrova.selbi@ya.ru
Поступила в редакцию: 29 апреля 2022 г.
В окончательной редакции: 29 апреля 2022 г.
Принята к печати: 12 мая 2022 г.
Выставление онлайн: 21 июня 2022 г.

Проведено экспериментальное исследование структуры и фазового состава методами рентгеновской, рамановской и ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии, а также исследование электрических свойств пленок WxSi1-x, использующихся в качестве чувствительных элементов сверхпроводниковых однофотонных детекторов (SNSPD), в зависимости от толщины в диапазоне от 7 до 80 nm, по результатам которого обнаружено, что фаза W3Si предположительно формируется в пленках толщиной 20 и 40 nm с удельным сопротивлением 8.4·10-5 и 6.0·10-5 Ω ·cm соответственно, содержащих фазы WSi2, W5Si3 и SiO2, а также WOx и небольшую долю β-W. Пленки толщиной 7 nm имеют наибольшее удельное сопротивление 18.0·10-5 Ω ·cm и содержат нанокристаллы, WSi2, SiO2, а также β-W и фазу аморфного кремния. В пленках толщиной 80 nm (удельное сопротивление также 18.0·10-5 Ω ·cm) преимущественно содержится WSi2, а также W5Si3 и SiO2 и, предположительно, фаза W3Si. Ключевые слова: сверхпроводниковый однофотонный детектор, фазовый состав, рентгеноаморфная структура, сверхпроводящие пленки WSi, спектроскопия.
  1. T. Yamashita, S. Miki, H. Terai. IEICE Transact. Electron. 100, 3, 274 (2017)
  2. E.E. Wollman, V.B. Verma, A.E. Lita, F.H. Farr, M.D. Shaw, R.P. Mirin, S.W. Nam. Opt. Exp. 27, 24, 35279 (2019)
  3. V.B. Verma, B. Korzh, A.B. Walter, A.E. Lita, R.M. Briggs, M. Colangelo, Y. Zhai, E.E. Wollman, A.D. Beyer, J.P. Allmaras, H. Vora, D. Zhu, E. Schmidt, A.G. Kozorezov, K.K. Berggren, R.P. Mirin, S.W. Nam, M.D. Shaw. APL Photon. 6, 5, 056101 (2021)
  4. B. Baek, A.E. Lita, V. Verma, S.W. Nam. Appl. Phys. Lett. 98, 25, 251105 (2011)
  5. J. Jin, F. Fu, X. Jia, L. Kang, Z. Wang, X. Tu, L. Zhang, B.B. Jin, J. Chen, W. Xu, P. Wu. IEEE Transact. Appl. Supercond. 29, 5, 1 (2019)
  6. X. Zhang, A. Engel, Q. Wang, A. Schilling, A. Semenov, M. Sidorova, H.-W. Huebers, I. Charaev, K. Ilin, M. Siegel. Phys. Rev. B 94, 17, 174509 (2016)
  7. F. Marsili, V.B. Verma, J.A. Stern, S. Harrington, A.E. Lita, T. Gerrits, I. Vayshenker, B. Baek, M.D. Shaw, R.P. Mirin, S.W. Nam. Nature Photon. 7, 3, 210 (2013)
  8. T. Cecil, A. Miceli, O. Quaranta, C. Liu, D. Rosenmann, S. Mc Hugh, B. Mazin. Appl. Phys. Lett. 101, 3, 032601 (2012)
  9. O. Quaranta, T.W. Cecil, A. Miceli. IEEE Transact. Appl. Supercond. 23, 3, 2400104 (2012)
  10. S. Kondo. J. Mater. Res. 7, 4, 853 (1992)
  11. S. Itoh. J. Phys.: Condens. Matter 2, 16, 3747 (1990)
  12. В.А. Терехов, Д.С. Усольцева, О.В. Сербин, И.Е. Занин, Т.В. Куликова, Д.Н. Нестеров, К.А. Барков, А.В. Ситников, С.К. Лазарук, Э.П. Домашевская. Конденсированные среды и межфазные границы 20, 1, 135 (2018)
  13. Ю.П. Першин, А.Ю. Девизенко, В.В. Мамон, В.С.Чумак, В.В. Кондратенко. Журн. физики и инженерии поверхности 1, 1, 27 (2016)
  14. Е.Н. Решетняк, С.В. Малыхин, Ю.П. Першин, А.Т. Пугачев. Вопросы атомной науки и техники 3, 161 (2003)
  15. И.В. Михайлова, В.А. Мамонтова, С. Хыдырова, М.Ю. Акишин, Д.Д. Васильев, К.М. Моисеев. Наноиндустрия 13, 39 (2020)
  16. V.A. Terekhov, V.M. Kashkarov, E.Y. Manukovskii, A.V. Schukarev, E.P. Domashevskaya. J. Electron Spectroscop. Rel. Phenomena 114, 895 (2001)
  17. F.M. d'Heurle, F.K. LeGoues, R. Joshi, I. Suni. Appl. Pphys. Lett. 48, 5, 332 (1986).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.