Представлены результаты исследования магнитных свойств исходных и термически обработанных Co₆₉Fe₄Cr₄Si₁₂B₁₁-микропроводов в стеклянной оболочке диаметром D, равным 125 mum, и диаметром аморфной металлической жилы d, равным 90 mum, полученных методом Улитовского-Тейлора. Обнаружено, что магнитные характеристики, в частности, поле насыщения H_S и коэрцитивная сила H_C, отожженных при температуре T<300^oC образцов не отличаются от H_S и H_C исходной микропроволоки, а в отожженных - при T>=400^oC возрастают практически на порядок. Полученные экспериментальные данные объяснены структурными особенностями микропроводов. Установлено, что приповерхностные значения H_S и H_C при T<300^oC больше объемных примерно в 5-10 раз. Эти экспериментальные данные объяснены наличием присущих аморфным материалам структурных и химических неоднородностей в приповерхностном слое. С дальнейшим повышением температуры отжига это различие уменьшается, но значения H_S и H_C существенно увеличиваются. Этот факт объяснен началом процессов кристаллизации микропроводов. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 10-02-00485-a), ПРАН П-7, ОХНМ-02.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.