Вышедшие номера
Атомный состав и морфология тонких пленок ресвератрола на поверхности окисленного кремния и поликристаллического золота
Переводная версия: 10.1134/S106378341903017X
РФФИ, a, 18-03-00020
РФФИ, а, 18-03-00179
Комолов А.С. 1, Лазнева Э.Ф. 1, Герасимова Н.Б.1, Соболев В.С.1, Панина Ю.А.1, Пшеничнюк С.А. 2, Асфандиаров Н.Л. 2
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН, Уфа, Россия
Email: a.komolov@spbu.ru
Поступила в редакцию: 14 июня 2018 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2019 г.

Приведены результаты исследования атомного состава термически напыленных пленок полифенольного антиоксиданта --- ресвератрола (RVL) --- толщиной до 50 nm, на поверхности окисленного кремния методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). Обнаружено, что площадь пор в пленке RVL составляет около 15% общей площади поверхности. Приведены результаты по изучению стабильности пленок RVL при обработке поверхности ионами Ar+ с энергией 3 keV при значениях электрического тока через образец порядка 1 μА в течение 30 s. Обработка привела к увеличению площади пор до 30-40%, а отношение концентраций атомов C к O в пленке RVL как до ионной обработки поверхности, так и после не соответствовало химической формуле RVL-молекул. Методом атомносиловой микроскопии (AFM) в контактной моде с размером области сканирования порядка 10 μmx10 μm исследованы RVL-покрытия поверхности окисленного кремния и поликристаллического Au. Обнаружено, что пленки RVL создают зернистое и пористое покрытие поверхности подложек. Характерный размер зерен составлял 150-300 nm в плоскости поверхности образца, а характерный перепад высот достигал 30 nm. Работа выполнена при поддержке РФФИ (18-03-00020, 18-03-00179). В работе использовали оборудование научного парка СПбГУ "Физические методы исследования поверхности", "Диагностика функциональных материалов для медицины, фармакологии и наноэлектроники" и "Нанофотоника".
  1. J.S. Wright, E.R. Johnson, G.A. DiLabio. J. Am. Chem. Soc. 123, 6, 1173 (2001)
  2. М.С. Кочетова, Е.Н. Семенистая, О.Г. Ларионов, А.А. Ревина. Успехи химии 76, 1, 88 (2007)
  3. J.E. Biaglow. Rad. Res. 86, 2, 212 (1981)
  4. S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. Lett. 5, 16, 2916 (2014)
  5. S.A. Pshenichnyuk, Y.N. Elkin, N.I. Kulesh, E.F. Lazneva, A.S. Komolov. Phys. Chem. Chem. Phys. 17, 26, 16805 (2015)
  6. S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. Lett. 6, 7, 1104 (2015)
  7. S. Ptasinska, S. Denifl, P. Scheier, E. Illenberger, T.D. Mark. Ang. Chem. Int. Ed. 44, 42, 6941 (2005)
  8. D.G. Barrett, T.S. Sileika, P.B. Messersmith. Chem. Commun. 50, 55, 7265 (2014)
  9. S. Gurunathan, J.W. Han, E.S. Kim, J.H. Park, J.-H. Kim. Int. J. Nanomedicine 10, 2951 (2015)
  10. M. Sheikhi, S. Shahab, M.M. Khaleghian, F.H. Hajikolaee, I. Balakhanava, R. Alnajjar. J. Mol. Structur. 1160, 479 (2018)
  11. R.K. Gangwar, V.A. Dhumale, D. Kumari, U.T. Nakate, S.W. Gosavi, R.B. Sharma, S.N. Kale, S. Datar. Mater. Sci. Eng. C 32, 8, 2659 (2012)
  12. M.A. Khan, W.T. Wallace, S.Z. Islam, S. Nagpure, J. Strzalka, J.M. Littleton, S.E. Rankin, B.L. Knutson. ACS Appl. Mater. Interfaces 9, 37, 32114 (2017)
  13. А.Я. Вайнер, К.М. Дюмаев, А.М. Коваленко, Я.Л. Бабушкин, С.А. Кричевская, Ш.И. Тарицкая. ДАН 473, 5, 557 (2017)
  14. J. Leyrer, R. Hunter, M. Rubilar, B. Pavez, E. Morales, S. Torres. Opt. Mater. 60, 411 (2016)
  15. V. Kumar, V.S. Parmar, L. Samuelson, J. Kumar, A.L. Cholli. Am. Chem. Soc., Polymer Preprints, Division of Polymer Chem. 43, 2, 940 (2002)
  16. S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A 116, 1, 761 (2012)
  17. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 60, 799 (2018)
  18. С.А. Пшеничнюк, А.В. Кухто, И.Н. Кухто, А.С. Комолов. ЖТФ 81, 6, 8 (2011)
  19. A.S. Komolov, E.F. Lazneva, S.N. Akhremtchik, N.S. Chepilko, A.A. Gavrikov. J. Phys. Chem. C 117, 24, 12633 (2013)
  20. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, А.В. Барамыгин, Г.Д. Зашихин, С.А. Пшеничнюк. ФТТ 58, 367 (2016)
  21. П.С. Крылов, А.С. Берестенников, А.Н. Алешин, А.С. Комолов, И.П. Щербаков, В.Н. Петров, И.Н. Трапезникова. ФТТ 57, 1639 (2015)
  22. L. Grzadziel, M. Krzywiecki, G. Genchev, A. Erbe. Synth. Met. 223, 199 (2017)
  23. A.S. Komolov, P.J. Moeller. Appl. Surf. Sci. 244, 573 (2005)
  24. A.S. Sizov, D.S. Anisimov, E.V. Agina, O.V. Borshchev, A.V. Bakirov, M.A. Shcherbina, S. Grigorian, V.V. Bruevich, S.N. Chvalun, D.Yu. Paraschuk, S.A. Ponomarenko. Langmuir 30, 50, 15327 (2014)
  25. A.S. Komolov, P.J. Moeller. Appl. Surf. Sci. 212--213, 493 (2003)
  26. Ю.М. Спивак, А.О. Белорус, А.А. Паневин, С.Г. Журавский, В.А. Мошников, К. Беспалова, П.А. Сомов, Ю.М. Жуков, А.С. Комолов, Л.В. Чистякова, Н.Ю. Григорьева. ЖТФ 88, 12, 1394 (2018)
  27. A.S. Lenshin, V.M. Kashkarov, Yu. M. Spivak, V.A. Moshnikov. Mater. Chem. Phys. 135, 293 (2012)
  28. B. Handke, L. Klita, W. Niemiec. Surf. Sci. 666, 70 (2017)
  29. A.S. Komolov, K. Schaumburg, P.J. Moeller, V.V. Monakhov. Appl. Surf. Sci. 142, 591 (1999).
  30. J.F. Moulder, W.F. Stickle, P.E. Sobol, K. Bomben. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscope / Ed. J. Chastain 2nd ed. Eden Prairie: Perkin-Elmer Corporation (Physical Electronics), (1992)
  31. A. Ganguly, S. Sharma, P. Papakonstantinou, J. Hamilton. J. Phys. Chem. C 115, 17009 (2011)
  32. Y.C.G. Kwan, G.M. Ng, C.H.A. Huan. Thin Solid Films 590, 40 (2015)
  33. A.S. Komolov, Y.M. Zhukov, E.F. Lazneva, A.N. Aleshin, S.A. Pshenichnuk, N.B. Gerasimova, Yu.A. Panina, G.D. Zashikhin, A.V. Baramygin. Mater. Des. 113, 319 (2017)
  34. Н.Л. Асфандиаров, С.А. Пшеничнюк, Р.Г. Рахмеев, А.Н. Лачинов, В.А. Крайкин. ЖТФ 88, 1085 (2018)
  35. N.L. Asfandiarov, S.A. Pshenichnyuk, A.S. Vorob'ev, E.P. Nafikova, A.N. Lachinov, V.A. Kraikin, A. Modelli. J. Chem. Phys. 142, 174308 (2015)
  36. S. Ptasinska, D. Gschliesser, P. Bartl, I. Janik, P. Scheier, S. Denifl. J. Chem. Phys. 135, 214309 (2011)
  37. E. Jungyoon, S. Kim, E. Lim, K. Lee, D. Cha, B. Friedman. Appl. Surf. Sci. 205, 274 (2003)
  38. L.G. Kudryashova, M.S. Kazantsev, V.A. Postnikov, V.V. Bruevich, Y.N. Luponosov, N.M. Surin, O.V. Borshchev, S.A. Ponomarenko, M.S. Pshenichnikov, D.Y. Paraschuk. ACS Appl. Mater. Interfaces 8, 10088 (2016)
  39. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, Н.Б. Герасимова, Ю.А. Панина, Г.Д. Зашихин, С.А. Пшеничнюк, О.В. Борщев, С.А. Пономаренко, B. Handke. ФТТ 60, 1011 (2018).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.