Вышедшие номера
Структура интерфейсов многослойных систем в спектрах зеркального рассеяния рентгеновского излучения
Романов В.П.1, Уздин С.В.1, Уздин В.М.2, Ульянов С.В.1,3
1Научно-исследовательский институт физики им. В.А. Фока Санкт-Петербургского государственного университета, Санкт-Петербург, Петергоф, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский торгово-экономический институт, Санкт-Петербург, Россия
Email: v.romanov@pobox.spbu.ru
Поступила в редакцию: 9 марта 2005 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2005 г.

Исследовано влияние пространственной структуры интерфейса в многослойных металлических пленках на форму спектра зеркального рассеяния рентгеновского излучения. Рассмотрено два типа структурных дефектов на интерфейсе - ступеньки, приводящие к переменной толщине слоев, и перемешивание атомов разных металлов в процессе эпитаксиального роста. Показано, что эти механизмы по-разному проявляются в спектрах зеркального рассеяния. Вследствие перемешивания заметно снижаются высоты брэгговских пиков, особенно высоких порядков. Шероховатости интерфейса приводят к уширению брэгговских пиков и исчезновению промежуточных пиков между ними. Работа частично поддержана грантами ИНТАС 01-0386, 03-51-4778 и Российского фонда фундаментальных исследований 04-02-16024. PACS: 73.21.Ac, 78.70.Ck