Вышедшие номера
Исследование внутренней структуры микрорезонаторов методом оптической томографии
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19030123
Левин Г.Г.1, Минаев В.Л.1, Миньков К.Н.1,2, Ермаков М.М.1, Самойленко А.А.1
1Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва, Россия
2Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова, Национальный исследовательский университет высшей школы экономики, Москва, Россия
Email: minaev@vniiofi.ru
Выставление онлайн: 17 февраля 2019 г.

Разработан микроскоп, который позволяет исследовать внутренние неоднородности показателя преломления оптических диэлектрических микрорезонаторов методом оптической томографии. Экспериментально исследовано влияние внутренних неоднородностей показателя преломления оптических диэлектрических микрорезонаторов, изготовленных методом термообработки, на их добротность. -18