Вышедшие номера
Home » Оптика и спектроскопия » Год 2019, выпуск 3 » Статья стр. 299
<<<>>>
Оптико-энергетические свойства тонких пленок CdS, полученных методом высокочастотного магнетронного распыления
DOI: 10.21883/OS.2019.03.47370.327-18
Переводная версия: 10.1134/S0030400X19030160
Петрусь Р.Ю.1, Ильчук Г.А.1, Кашуба А.И.1,2, Семкив И.В.1, Змийовська Е.О.1
1Национальный университет "Львовская политехника", Львов, Украина
2Львовский национальный университет им. Ивана Франко, Львов, Украина
Email: ilchukg@gmail.com
Выставление онлайн: 17 февраля 2019 г.
PDF версия
Представлены результаты экспериментальных и теоретических исследований оптико-энергетических свойств тонких пленок CdS. Приведены методика синтеза, результаты структурных и оптических исследований тонких пленок CdS, осажденных на поверхности стеклянной подложки. В рамках метода псевдопотенциала теоретически изучена динамика изменения параметров электронной подсистемы пленки CdS. Установлены прямозонный характер запрещенной щели пленки и генезис зоны проводимости и валентной зоны. С использованием соотношения Крамерса-Кронига получены спектры поглощения и отражения, которые удовлетворительно коррелируют с полученными экспериментальными данными. -18
  1. Romeo N., Bosio A., Tedeschi R., Canevari V. // Mater. Chem. Phys. 2000. V. 66. P. 201. doi 10.1016/S0254-0584(00)00316-3
  2. Basola B.M., McCandless B. // J. Photon. Energy. 2014. V. 4. P. 040996. doi 10.1117/1.JPE.4.040996
  3. Romeo N., Bosio A., Canevari V., Podesta A. // Sol. Energy. 2014. V. 77. P. 795. doi 10.1016/j.solener.2004.07.011
  4. Paudel N.R., Xiao C., Yan Y. // J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 2014. V. 25. P. 1991. doi 10.1007/s10854-014-1834-1
  5. Averin S.V., Kuznetsov P.I., Zhitov V.A., Alkeev N.V., Kotov V.M., Zakharov L.Y., Gladysheva N.B. // Tech. Phys. 2012. V. 57. P. 1514. doi 10.1134/S1063784212110047
  6. Bhattacharya R.N., Contreras M.A., Egaas B., Noufi R.N. // Appl. Phys. Lett. 2006. V. 89. P. 253503. doi 10.1063/1.2410230
  7. Oladeji I.O., Chow L. // Thin Solid Films. 2005. V. 474. P. 77. doi 10.1016/j.tsf.2004.08.114
  8. Mahmood W., Ali J., Zahid I., Thomas A., Haq A. // Optik. 2018. V. 158. P. 1558. doi 10.1016/j.ijleo.2018.01.045
  9. Bosio A., Romeo N., Mazzamuto S., Canevari V. // Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 2006. V. 52. P. 247. doi 10.1016/j.pcrysgrow.2006.09.001
  10. McCandless B.E., Dobson K.D. // Sol. Energy. 2004. V. 77. P. 839. doi 10.1016/j.solener.2004.04.012
  11. Kusnezh V., Petrus R., Il'chuk H., Tuziak O., Zachek I., Rodych V. // J. Nano- and Electronic Physics. 2014. V. 6. P. 020231
  12. Kraus W., Nolze G. // J. Appl. Crystallogr. 1996. V. 29. P. 301. doi 10.1107/S0021889895014920
  13. Vanderbilt D. // Phys. Rev. B. 1990. V. 41. P. 7892. doi 10.1103/PhysRevB.41.7892
  14. Perdew J.P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. 1996. V. 77. P. 3865. doi 10.1103/PhysRevLett.77.3865
  15. Monkhorst H.J., Pack J.D. // Phys. Rev. B. 1976. V. 13. P. 5188. doi 10.1103/PhysRevB.13.5188
  16. Kashuba A.I., Piasecki M., Bovgyra O.V., Stadnyk V.Yo., Demchenko P., Fedorchuk A., Franiv A.V., Andriyevsky B. // Acta Physica Polonica A. 2018. V. 133. N 1. P. 68. doi 10.12693/APhysPolA.133.68
  17. Schlegel H.B. // J. Comp. Chem. 1982. V. 3. P. 214. doi 10.1002/jcc.540030212
  18. Kohn W., Sham L.J. // Phys. Rev. A. 1965. V. 140. N 4. P. A1133. doi 10.1103/Phys. Rev.140.A1133
  19. Kashuba A.I., Zhydachevskyy Ya.A., Semkiv I.V., Franiv A.V., Kushnir O.S. // Ukr. J. Phys. Opt. 2018. V. 19. P. 1. doi 10.3116/16091833/19/1/1/2018
  20. Kashuba A.I., Franiv A.V., Brezvin R.S., Bovgyra O.V. // Functional Materials. 2017. V. 23. P. 026. doi 10.15407/fm24.01.026
  21. Franiv A.V., Kashuba A.I., Bovgyra O.V., Futey O.V. // Ukr. J. Phys. 2017. V. 62. P. 679. doi 10.15407/ujpe62.08.0679
  22. Bloom S., Bergstresser T.K. // Solid State Commun. 1968. V. 6. P. 465. doi 10.1016/0038-1098(68)90056-2
  23. Il'chuk G.A., Kusnezh V.V., Rud' V.Yu., Rud' Yu.V., Shapowal P.Yo., Petrus R.Yu. // Semiconductors. 2010. V. 44. P. 318. doi 10.1134/S1063782610030085
  24. Il'chuk G.A., Ukrainets V.O., Rud' Yu.V., Kuntyi O.I., Ukrainets N.A., Lukiyanets B.A., Petrus R.Yu. // Techn. Phys. Lett. 2014. V. 30. P. 628. doi 10.1134/1.1792294
  25. Gajdovs M., Hummer K., Kresse G., Furthmuller J., Bechstedt F. // Phys. Rev. B. 2006. V. 73. P. 045112. doi 10.1103/PhysRevB.73.045112

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme