ФТТ, 2008, том 50, выпуск 1

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние внешних воздействий на эффект термической памяти несоизмеримой фазы в сегнетоэлектриках-полупроводниках TlGaSe2

Мир-Гасан Ю.Сеидов\kern1pt*,**, Р.А.Сулейманов\kern1pt*,**, С.С.Бабаев\kern1pt**, Т.Г.Мамедов\kern1pt**, Г.М.Шарифов\kern1pt**

* Department of Physics, Gebze Institute of Technology,
41400 Kocaeli, Turkey
** Институт физики Национальной академии наук Азербайджана,
AZ-143 Баку, Азербайджан
E-mail: smirhasan@gyte.edu.tr

(Поступила в Редакцию в окончательном виде 24 апреля 2007 г.)

Приводятся и обсуждаются особенности влияния внешних воздействий (постоянное электрическое поле, световое воздействие) на эффект термической памяти несоизмеримой фазы в сегнетоэлектриках-полупроводниках TlGaSe2, регистрируемый по данным измерения диэлектрической постоянной. Впервые продемонстрировано, что влияние внешних воздействий на аномалию, связываемую с проявлением эффекта термической памяти в TlGaSe2, сводится к некоему универсальному эмпирическому правилу: при длительной временной выдержке образца при постоянной температуре T0 в области несоизмеримой фазы в присутствии постоянного электрического поля сильно увеличивается амплитуда прогиба в низкотемпературной части аномалии температурной зависимости относительного измерения диэлектрической постоянной Deltavarepsilon/varepsilon (при этом стирается прогиб в высокотемпературной части аномалии Deltavarepsilon/varepsilon(T) ) по сравнению с аналогичным участком зависимости, полученной при изотермическом отжиге образца при той же температуре, но без электрического поля. При этом кристалл \glqq вспоминает\grqq свою предысторию при температуре, смещенной относительно T0 на несколько градусов в сторону более высоких температур. Световое же воздействие увеличивает амплитуду прогиба в высокотемпературной части аномалии Deltavarepsilon/varepsilon(T), смещая температуру, при которой кристалл \glqq вспоминает\grqq свою предысторию, в сторону более низких температур относительно T0.

PACS: 77.80.-e, 64.70.Rh, 61.44.Fw, 78.20.Ci

 PDF версия (287Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster