ФТТ, 2006, том 48, выпуск 7

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние упругих напряжений на термоэлектрические свойства эпитаксиальных слоев Pb1-xGexTe

В.Н.Водопьянов, А.П.Бахтинов, Е.И.Слынько, М.В.Радченко, B.И.Сичковский,
Г.В.Лашкарев, W.Dobrowolski\kern1pt*, R.Yakiela\kern1pt*

Институт проблем материаловедения Национальной академии наук Украины,
03680 Киев, Украина
* Institute of Physics, Polish Academy of Sciences,
02-668 Warsaw, Poland
E-mail: radch@isp.kiev.ua

(Поступила в Редакцию 3 июня 2005 г.
В окончательной редакции 18 октября 2005 г.)

Измерена температурная зависимость термоэдс эпитаксиальных пленок Pb1-xGexTe (x=0.01-0.05) на подложках BaF2(111). Установлено несовпадение температуры фазового перехода ферроэлектрического типа с полученной для объемных монокристаллов такого же состава. Это несоответствие объяснено влиянием упругих напряжений кристаллической решетки Pb1-xGexTe, которые возникают при охлаждении слоев от температуры выращивания до температуры измерений вследствие различия коэффициентов термического расширения пленки и подложки.

PACS: 73.50.Lw, 73.61.Le

 PDF версия (136Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster