ФТТ, 2006, том 48, выпуск 5

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Исследование плазмонов в ионно-облученных однослойных углеродных нанотрубках спектроскопическими методами

М.М.Бржезинская, Е.М.Байтингер\kern1pt*, А.Б.Смирнов\kern1pt**

Челябинский государственный педагогический университет,
454080 Челябинск, Россия
* Preubisches Privatinstitut fur Technologie zur Berlin,
13187 Berlin, Germany
** Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
E-mail: brzhezinskaya@fromru.com

(Поступила в Редакцию 4 июля 2005 г.)

Работа посвящена экспериментальному изучению электронного строения однослойных углеродных нанотрубок методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, спектроскопии характеристических потерь энергии электронами на отражение и оже-электронной спектроскопии. Изучена сателлитная shake up структура, существующая вблизи остовных C 1s-линий в рентгеновских фотоэлектронных спектрах со стороны больших энергий связи в интервале 284-330 eV, которая обусловлена возбуждением pi- и pi+sigma-плазмонов. Исследовано влияние на форму спектров облучения ионами аргона с энергией 1 keV. Форма сателлитных C 1s-спектров оказалась чувствительной к облучению Ar+ в интервале энергий потерь 10-40 eV, соответствующем возбуждению pi+sigma-плазмонов.

С помощью оже-спектроскопии обнаружено присутствие аргона на поверхности облученных ионами образцов. Его концентрация увеличивалась при возрастании дозы ионного облучения до ~4 at.%.

Анализ результатов и сопоставление с литературными данными позволил сформулировать качественный вывод о деформации валентных углов у атомов углерода, образующих стенки однослойных нанотрубок, в месте облучения Ar+.

Работа выполнена при поддержке Министерства образования Российской Федерации (грант N PD02-1.2-170).

PACS: 71.45.Gm, 71.20.Tx

 PDF версия (299Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster