| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Светоизлучающие структуры Si : Er, полученные методом молекулярно-лучевой эпитаксии: влияние условий эпитаксиального роста на концентрацию примесей и фотолюминесценцию
Н.А.Соболев, Д.В.Денисов, А.М.Емельянов, Е.И.Шек, Б.Я.Бер, А.П.Коварский,
В.И.Сахаров, И.Т.Серенков, В.М.Устинов, Г.Э.Цырлин, Т.В.Котерева
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
Институт химии высокочистых веществ Российской академии наук,
603600 Нижний Новгород, Россия
E-mail: nick@sobolev.ioffe.rssi.ru
|
Исследована технология и свойства светоизлучающих структур на основе легированных эрбием в процессе молекулярно-лучевого эпитаксиального роста слоев кремния. В процессе эпитаксии на подложках, изготовленных из выращенного методом Чохральского кремния, происходит легирование растущего слоя примесями кислорода и углерода. Это позволяет упростить процесс легирования слоя Si : Er примесями-активаторами люминесценции, исключив встраивание в ростовую камеру специального капилляра для введения их из газовой фазы. В фотолюминесцентных спектрах всех исследуемых слоев при 78 K доминирует Er-содержащий центр с длиной волны в максимуме излучения . Зависимости интенсивности этой линии в исследуемых интервалах температур подложки (400--700C) и источника примеси эрбия (C) представляют собой кривые с максимумами. Наблюдавшиеся в спектрах ФЛ линии краевой люминесценции и -линия главным образом возбуждаются в подложке. Измеренная методом обратного резерфордовского рассеяния протонов концентрация атомов эрбия в выращенных при температуре подложки C эпитаксиальных слоях характеризуется экспоненциальной зависимостью от температуры источника эрбия с энергией активации eV. Работа частично поддержана INTAS (грант N 2001-0194), Российским фондом фундаментальных исследований (гранты N 02-02-16374 и 04-02-16935) и Отделением физических наук РАН в рамках Научной программы \glqq Новые материалы и структуры\grqq. |
| PDF версия (160Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2005, Коллектив авторов Разработано... webmaster |