| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Влияние дефектов кристаллической структуры
на диффузию гелия в кварце
Т.С.Аргунова, Л.М.Сорокин, Б.З.Певзнер, В.С.Балицкий, М.А.Ганнибал,
J.H.Je, Y.Hwu, W.-L.Tsai
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова Российской академии наук,
199155 Санкт-Петербург, Россия
Институт экспериментальной минералогии Российской академии наук,
142432 Черноголовка, Московская обл., Россия
Институт геологии Кольского научного центра Российской академии наук,
184209 Апатиты, Мурманская обл., Россия
Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology,
Pohang, Republic of Korea
Institute of Physics, Academia Sinica, Nankang, Taipei, Taiwan, Republic of China
E-mail: lev.sorokin@mail.ioffe.ru
(Поступила в Редакцию 18 февраля 2003 г.)
|
Исследованы растворимость и диффузия гелия в кристаллическом кварце в зависимости от распределения и плотности дефектов структуры. Методами рентгеновской дифракционной топографии и фазовой радиографии на источнике синхротронного излучения определены типы дефектов в кристаллах и установлено их распределение по секторам роста. На основе измерения количества гелия, экстрагированного из образцов с различным содержанием дефектов, получены оценки эффективных коэффициентов растворимости и диффузии гелия в кварце. Установлено, что эффективный коэффициент диффузии гелия связан с количеством дислокаций. Работа выполнена при поддержке Швейцарской научной программы \glqq Миграция гелия в подземных геосферах\grqq N 7SUPJ062127 и гранта Российского фонда фундаментальных исследований N 03-02-16613. Т.С. Аргунова выражает благодарность корейскому фонду KISTEP за возможность проведения синхротронных исследований в рамках совместной корейско-российской научной программы. J.H. Je выражает благодарность National Research Laboratory Program. |
| PDF версия (2.5Mb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2003, Коллектив авторов Разработано... webmaster |