Вышедшие номера
Микроструктура и электрические свойства тонких пленок SnS
Башкиров С.А.1, Гременок В.Ф.1, Иванов В.А.1, Шевцова В.В.1
1НПЦ по материаловедению НАН Белоруссии, Минск, Белоруссия
Email: bashkirov@ifttp.bas-net.by
Поступила в редакцию: 25 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2012 г.

Тонкие пленки SnS представляют интерес для оптоэлектроники. Исследовано влияние режимов получения на микроструктуру и электрические свойства тонких пленок SnS, полученных методом горячей стенки на подложках из чистого стекла и стекла с подслоем молибдена. Установлено, что на подложках из чистого стекла в зависимости от режима получения возможно формирование пленок SnS с двумя типами текстуры (111) и (010). Удельное сопротивление и температурный коэффициент термоэдс пленок SnS на стекле изменяются в пределах от 12 до 817 Omega·cm и от 37 до 597 muV/K соответственно в зависимости от режимов получения. Энергия активации составляет 0.11-0.12 eV. Работа выполнена при поддержке Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований.
  1. K. Reddy, N. Reddy, R. Miles. Solar Energy Mater. Solar Cells 90, 3041 (2006)
  2. M. Gunasekaran, M. Ichimura. Solar Energy Mater. Solar Cells 91, 774 (2007)
  3. T. Chattopadhyay, J. Pannetier, H. von Schnering. J. Phys. Chem. Solids 47, 879 (1986)
  4. W. Albers, K. Schol. Philips Res. Rep. 16, 329 (1961)
  5. R. Sharma, Y. Chang. Bull. Alloy Phase Diagrams 7, 269 (1986)
  6. R. Kniep, D. Mootz, U. Severin, H. Wunderlich. Acta Crystallogr. B 38, 2022 (1982)
  7. A. Tanuv sevski, D. Poelman. Solar Energy Mater. Solar Cells 80, 297 (2003)
  8. M. Calixto-Rodriguez, H. Martinez, A. Sanchez-Juarez, J. Campos-Alvarez, A. Tiburcio-Silver, M. Calixto. Thin Solid Films 517, 2497 (2009)
  9. T. Sajeesh, A. Warrier, C. Kartha, K. Vijayakumar. Thin Solid Films 518, 4370 (2010)
  10. F. Kanga, M. Ichimura. Thin Solid Films 519 725 (2010)
  11. M. Devika, N. Reddy, K. Ramesh, V. Ganesan, E. Gopal, K. Reddy. Appl. Surf. Sci. 253, 1673 (2006)
  12. M. Devika, N. Reddy, K. Ramesh, K. Gunasekhar, E. Gopal, K. Reddy. Semicond. Sci. Technol. 21, 1125 (2006)
  13. M. Devika, N. Koteeswara Reddy, D. Sreekantha Reddy, S. Venkatramana Reddy, K. Ramesh, E.S.R. Gopal, K.R. Gunasekhar, V. Ganesan, Y.B. Hahn. J. Phys.: Cond. Matter. 19, 306 003 (2007)
  14. R. Miles, O. Ogah, G. Zoppi, I. Forbes. Thin Solid Films 517, 4702 (2009)
  15. A. Lopez-Otero. Thin Solid Films 49, 3 (1978)
  16. С.А. Башкаров, В.Ф. Гременок, В.А. Иванов. ФТП 45, 765 (2011)
  17. В.Ф. Гременок, В.Ю. Рудь, Ю.В. Рудь, С.А. Башкиров, В.А. Иванов. ФТП 45, 1084 (2011)
  18. R. Colin, J. Drowart. J. Chem. Phys. 37, 1120, (1962)
  19. M. Devika, K.T.R. Reddy, N.K. Reddy, K. Ramesh, R. Ganesan, E.S.R. Gopal, K.R. Gunasekhar, J. Appl. Phys. 100, 023 518 (2006)
  20. M. Devika, N. Koteeswara Reddy, K. Ramesh, K.R. Gunasekhar, E.S.R. Gopal, K.T. Ramakrishna Reddy. J. Electrochem. Soc., 154, H67 (2007)
  21. V.V. Lazenka, K. Bente, R. Kaden, V.A. Ivanov, V.F. Gremenok. J. Adv. Microsc. Res. 6, 53 (2011)
  22. J.S. Anderson, M.C. Mortan. Nature 155, 112 (1945)
  23. H. Rau. J. Phys. Chem. Solids 27, 761 (1966)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.