Вышедшие номера
Влияние подслоя CrW на структуру и магнитные свойства тонких пленок FePt
Камзин А.С.1, Wei F.L2, Ганеев В.3, Зарипова Л.Д.3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Key Laboratory for Magnetism and Magnetic Materials of the Ministry of Education, Research Institute of Magnetic Materials, Lanzhou University, Lanzhou, China
3Казанский федеральный университет, Казань, Россия
Email: kamzin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 6 февраля 2012 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2012 г.

Методом магнетронного распыления получены многослойные структуры Fe55Pt45(20 nm)/Pt(5 nm)/ Cr100-xWx(80 nm)/стекло, в которых магнитная пленка Fe55Pt45 обладает гранецентрированной тетрагональной (ГЦТ) структурой L10-фазы текстуры (001). Исследована микроструктура и текстура пленок FePt в зависимости от содержания W в подслое Cr100-xWx, где 0 <x< 25. Установлено, что повышение концентрации ионов W приводит к формированию в подслое Cr100-xWx текстуры (200) и увеличению постоянной решетки Cr. При этом понижается температура преобразования гранецентрированной кубической фазы в ГЦТ-фазу пленок FePt из-за увеличения напряжений растяжения вдоль оси a. Найдено, что коэрцитивность FePt тонких пленок, осажденных на подложки CrW, возрастает с увеличением содержания W в подслое Cr100-xWx вследствие того, что образуемый сплав CrW препятствует диффузии между пленкой FePt и подслоем CrW. Дополнительный промежуточный слой Pt толщиной 5 nm осажден также для подавления диффузии между слоями FePt и CrW. В результате осаждением на подложку, нагретую до температуры 400oC, и подслой Cr85W115 получены высокотекстурированные FePt пленки (001) для сверхвысокоплотной записи информации.
  1. T. Klemmer, D. Hoydick, H. Okumura, B. Zhang, W.A. Soffa. Scripta Met. Mater. 33, 1793 (1995)
  2. R. Fernandez, N. Amos, C. Zhang, B. Lee, S. Khizroev. Thin Solid Films 519, 8053 (2011)
  3. Y.F. Ding, X. Zhao, E. Liu. In: Magnetic thin films Ed. J.P. Volkerts. Nova Science Publ., Inc. (2011). Ch. 8
  4. M.A. Parker, J.K. Howard, R. Ahlert, K.R. Coffey. J. Appl. Phys. 73, 5560 (1993)
  5. Z.S. Shan, C.P. Luo, M. Azarisooreh, K. Honardoost, M. Russak, Y. Liu, J.P. Liu, D.J. Sellmyer. IEEE Trans. Magn. 35, 2643 (1999)
  6. Y. Xu, J.S. Chen, and J.P. Wang. Appl. Phys. Lett. 80, 3325 (2002)
  7. Y.N. Hsu, S. Jeong, D.E. Laughlin, D.N. Lambeth. J. Appl. Phys. 89, 7068 (2001)
  8. M.L. Plumer, J. van Ek, D. Weller. The physics of ultra-high-density magnetic recording (Springer, Berlin, 2001). P. 40
  9. В.Г. Семенов, В.В. Панчук. Частное сообщение (2010)
  10. J.S. Chen, B.C. Lim, J.P. Wang. Appl. Phys. Lett. 81, 1848 (2002)
  11. V. Karanasos, I. Panagiotopoulos, D. Niarchos, H. Okumura, G.C. Hadjipanayis. Appl. Phys. Lett. 79, 1255 (2001)
  12. P.C. Kuo, Y.D. Yao, C.M. Kuo, H.C. Wu. J. Appl. Phys. 87, 6146 (2000)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.