Исследованы особенности морфологии поверхности алмазных кристаллитов иглоподобной формы, полученных в результате термического окисления на воздухе поликристаллических алмазных пленок, выращенных методом газофазного химического осаждения. Морфология поверхности кристаллитов изучена с помощью просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Проведены исследования алмазных игл методами комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции, а также выполнен анализ с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии. Обнаружено, что алмазные иглы представляют собой монокристаллы пирамидальной формы с базовой плоскостью, имеющей гладкую на атомарном уровне поверхность и кристаллографическую ориентацию (100). Установлено, что боковые грани имеют кристаллографическую ориентацию близкую к (110) и значительную шероховатость, вызванную отклонением от идеальной кристаллографической ориентации и образованием многочисленных центров вторичной нуклеации в процессе формирования при осаждении из газовой фазы. Показано, что нагрев полученных алмазных иглоподобных кристаллитов на воздухе при температуре 690 ^oС и длительности от 1 до 25 h приводит к уменьшению их длины и изменению морфологии их боковых граней, которое объясняется спонтанным фасетированием в результате термоактивированной поверхностной диффузии атомов. Ключевые слова: алмаз, химическое осаждение из газовой фазы, термическое окисление, фасетирование.