Вышедшие номера
Выявление рекристаллизованной структуры посредством автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов
Конькова Т.Н.1, Миронов С.Ю.1,2, Корзников А.В.1, Мышляев М.М.3,4
1Учреждение Российской академии наук Институт проблем сверхпластичности металлов РАН, Уфа, Россия
2Department of Materials Processing, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai, Japan
3Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук, Москва, Россия
4Институт физики твердого тела Российской академии наук, Черноголовка, Московская обл., Россия
Email: konkova_05@mail.ru
Поступила в редакцию: 19 июля 2011 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2012 г.

Обсуждается возможность применения метода автоматического анализа картин дифракции обратнорассеянных электронов (EBSD) для выявления рекристаллизованной структуры в частично рекристаллизованном материале. Выполненный анализ был проведен на основе новых экспериментальных результатов. Показано, что метод EBSD может быть успешно использован для исследования процесса рекристаллизации.