Вышедшие номера
Кристаллическая структура, наноструктура и диэлектрические характеристики пленок 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3, выращенных на подложке (001)SrTiO3(0.5% Nb)
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание ЮНЦ РАН, 122020100294-9
Матяш Я.Ю. 1, Стрюков Д.В. 1, Павленко А.В. 1,2, Тер-Оганесян Н.В. 2
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
2Научно-исследовательский институт физики, Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
Email: matyash.ya.yu@gmail.com, strdl@mail.ru, tolik_260686@mail.ru, teroganesyan@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 14 июня 2023 г.
В окончательной редакции: 23 августа 2023 г.
Принята к печати: 25 августа 2023 г.
Выставление онлайн: 2 октября 2023 г.

Исследована структура, наноструктура и свойства тонкой пленки 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3 толщиной ~30 nm, выращенной методом ВЧ-катодного напыления в атмосфере кислорода на подложке (001)SrTiO3(0.5%Nb). По данным рентгеновской дифракции установлено, что в пленке возникает значительное растяжение элементарной ячейки величиной 4.8% в перпендикулярном к подложке направлении. Показано, что наиболее вероятным механизмом роста пленки является механизм Франка-ван дер Мерве, при этом результаты исследований петель диэлектрического гистерезиса пленки в полях до 833 kV/cm и ее пьезоактивности методами атомно-силовой микроскопии свидетельствовали о наличии в ней сегнетоэлектрического отклика. Обсуждаются возможные причины выявленных особенностей. Ключевые слова: антисегнетоэлектрик, NaNbO3, SrZrO3, атомно-силовая микроскопия, рентгеновская дифракция, диэлектрическая спектроскопия.
  1. Z. Liu, T. Lu, J. Ye, G. Wang, X. Dong, R. Withers, Y. Liu. Adv. Mater. Technol. 3, 9, 1800111 (2018)
  2. X. Tan, Ch. Ma, J. Frederick, S. Beckman, K.G. Webber. J. Am. Ceram. Soc. 94, 12, 4091 (2011)
  3. N. Izyumskaya, Y.-I. Alivov, S.-J. Cho, H. Morko c, H. Lee, Y.-S. Kang. Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 32, 3-4, 111 (2007)
  4. European Commission. Directive 2011/65/EU of the European Parliament and of the Council of 8 June 2011 on the restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment (recast). Off. J. Eur. Union 1, 88 (2011)
  5. H.D. Megaw. Ferroelectrics 7, 1, 87 (1974)
  6. L.E. Cross, B.J. Nicholson. The London, Edinburgh, and Dublin Phil. Mag. J. Sci. 46, 376, 453 (1955)
  7. A.M. Glazer, H.D. Megaw. Acta Cryst. 29, 5, 489 (1973)
  8. E.A. Wood, R.C. Miller, J.I. Remeika. Acta Cryst. 15, 1273 (1962)
  9. H. Guo, H. Shimizu, Y. Mizuno, C.A. Randall. J. Appl. Phys. 117, 21, 214103 (2015)
  10. H. Shimizu, H. Guo, S.E. Reyes-Lillo, Y. Mizuno, K.M. Rabe, C.A. Randall. Dalton Trans. 44, 23, 10763 (2015)
  11. I. Fujii T. Shimasaki, T. Nobe, H. Adachi, T. Wada. Jpn. J. Appl. Phys. 57, 11S, 11UF13 (2018)
  12. А.В. Павленко, С.П. Зинченко, Д.В. Стрюков, А.П. Ковтун. Наноразмерные пленки ниобата бария-стронция: особенности получения в плазме высокочастотного разряда, структура и физические свойства. Изд-во ЮНЦ РАН, Ростов-на-Дону (2022). 244 с
  13. A.V. Pavlenko, D.V. Stryukov, V.G. Smotrakov, E.V. Glazunova, Yu.A. Kuprina, N.V. Ter-Oganessian. Ferroelectrics 590, 1, 227 (2022)
  14. А.Р. Шугуров, А.В. Панин. ЖТФ 90, 12, 1971 (2020)
  15. P.E. Janolin. J. Mater. Sci. 44, 5025 (2009)
  16. А.В. Павленко, Д.А. Киселев, Я.Ю. Матяш. ФТТ 63, 6, 776 (2021)
  17. K. Beppu, T. Shimasaki, I. Fujii, T. Imai, H. Adachi, T. Wada. Phys. Lett. A 384, 27, 126690 (2020)
  18. R. Meyer, R. Waser, K. Prume, T. Schmitz, S. Tiedke. Appl. Phys. Lett. 86, 14, 142907 (2005)
  19. J.F. Scott. J. Phys.: Condens. Matter 20, 2, 021001 (2007)
  20. K.J. Choi, M. Biegalski, Y.L. Li, A. Sharan, J. Schubert, R. Uecker, P. Reiche, Y.B. Chen, X.Q. Pan, V. Gopalan, L.-Q. Chen, D.G. Schlom, C.B. Eom. Science 306, 5698, 1005 (2004)
  21. D. Lebeugle, D. Colson, A. Forget, M. Viret. Appl. Phys. Lett. 91, 2, 022907 (2007)
  22. J. Li, J. Wang, M. Wuttig, R. Ramesh, N. Wang, B. Ruette, A.P. Pyatakov, A.K. Zvezdin, D. Viehland. Appl. Phys. Lett. 84, 25, 5261 (2004)
  23. Y.H. Lee, H.J. Kim, T. Moon, K.D. Kim, S.D. Hyun, H.W. Park, Y.B. Lee, M.H. Park C.S. Hwang. Nanotechnology 28, 30, 305703 (2017)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.