Вышедшие номера
Кристаллическая структура, наноструктура и диэлектрические характеристики пленок 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3, выращенных на подложке (001)SrTiO3(0.5% Nb)
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание ЮНЦ РАН, 122020100294-9
Матяш Я.Ю. 1, Стрюков Д.В. 1, Павленко А.В. 1,2, Тер-Оганесян Н.В. 2
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
2Научно-исследовательский институт физики, Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
Email: matyash.ya.yu@gmail.com, strdl@mail.ru, tolik_260686@mail.ru, teroganesyan@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 14 июня 2023 г.
В окончательной редакции: 23 августа 2023 г.
Принята к печати: 25 августа 2023 г.
Выставление онлайн: 2 октября 2023 г.

Исследована структура, наноструктура и свойства тонкой пленки 0.91NaNbO3-0.09SrZrO3 толщиной ~30 nm, выращенной методом ВЧ-катодного напыления в атмосфере кислорода на подложке (001)SrTiO3(0.5%Nb). По данным рентгеновской дифракции установлено, что в пленке возникает значительное растяжение элементарной ячейки величиной 4.8% в перпендикулярном к подложке направлении. Показано, что наиболее вероятным механизмом роста пленки является механизм Франка-ван дер Мерве, при этом результаты исследований петель диэлектрического гистерезиса пленки в полях до 833 kV/cm и ее пьезоактивности методами атомно-силовой микроскопии свидетельствовали о наличии в ней сегнетоэлектрического отклика. Обсуждаются возможные причины выявленных особенностей. Ключевые слова: антисегнетоэлектрик, NaNbO3, SrZrO3, атомно-силовая микроскопия, рентгеновская дифракция, диэлектрическая спектроскопия.