Вышедшие номера
Home » Физика твердого тела » Год 2022, выпуск 11 » Статья стр. 1760
<<<>>>
Исследование пьезоэлектрических свойств кристаллов бифталата рубидия методом времяразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
DOI: 10.21883/FTT.2022.11.53330.421
Переводная версия: 10.21883/PSS.2022.11.54197.421
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Конкурс на лучшие научные проекты междисциплинарных фундаментальных исследований, 19-29-12037 мк
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральная научно-техническая программа развития синхротронных и нейтронных исследований и исследовательской инфраструктуры на 2019-2027 годы, 075-15-2021-1362
Ибрагимов Э.С.1,2, Куликов А.Г.1,2, Марченков Н.В.1,2, Писаревский Ю.В.1,2, Благов А.Е.1,2, Ковальчук М.В.1,2
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
Email: ontonic@gmail.com
Поступила в редакцию: 4 июля 2022 г.
В окончательной редакции: 4 июля 2022 г.
Принята к печати: 6 июля 2022 г.
Выставление онлайн: 23 августа 2022 г.
PDF версия
С использованием метода времяразрешающей рентгеновской дифрактометрии в трехкристальной схеме измерена деформация решетки кристалла бифталата рубидия (С8H5RbO4) во внешнем электрическом поле. При воздействии внешнего импульсного электрического поля вдоль полярной оси [001] независимо по трем рефлексам 400, 070 и 004 определены пьезоэлектрические модули d31,d32 и d33, значения которых составили соответственно -32.8±0.6, 12.8±0.3 и 21.8±1.2 pC/N. Обнаружено хорошее соответствие полученных в данной работе величин пьезоэлектрических модулей значениям, полученным ранее квазистатическим методом. Ключевые слова: пьезоэлектрический эффект, времяразрешающая рентгеновская дифрактометрия, трехкристальная схема дифракции, кристаллы бифталатов, внешнее электрическое поле.
  1. H. Yan, Z. Feng, S. Shang, X. Wang, Z. Hu, J. Wang, Z. Zhu, H. Wang, Z. Chen, H. Hua, W. Lu, J. Wang, P. Qin, H. Guo, X. Zhou, Z. Leng, Z. Liu, C. Jiang, M. Coey, Z. Liu. Nature Nanotechnology 14, 2, 131 (2019). DOI: 10.1038/s41565-018-0339-0
  2. J. Hanzig, M. Zschornak, M. Nentwich, F. Hanzig, S. Gemming, T. Leisegang, D.C. Meyer. J. Power Sources 267, 700 (2014). DOI: 10.1016/j.jpowsour.2014.05.095
  3. А.А. Бухараев, А.К. Звездин, А.П. Пятаков, Ю.К. Фетисов. УФН 188, 1288 (2018). DOI: 10.3367/UFNr.2018.01.038279
  4. F. Gunkela, D.V. Christensen, Y.Z. Chen, N. Pryds. Appl. Phys. Lett. 116, 120505 (2020). DOI: 10.1063/1.5143309
  5. M.S. Khan, T.S. Narasimhamurty. J. Mater Sci Lett 1, 268 (1982). DOI: 10.1007/BF00727853
  6. K.B.R. Varma, A.K. Raychaudhuri. J. Phys. D 22, 809 (1989). DOI: 10.1088/0022-3727/22/6/017
  7. A.A. Kaminskii, S.N. Bagayev, V.V. Dolbinina, E.A. Voloshin, H. Rhee, H.J. Eichler, J. Hanuza. Laser Phys. Lett. 6, 544 (2009). DOI: 10.1002/lapl.200910020
  8. N. Kejalakshmy, K. Srinivasan. J. Phys. D 36, 1778 (2003). DOI: 10.1088/0022-3727/36/15/305
  9. D. Chopra. Rev. Sci. Instrum. 41, 1004 (1970). DOI: 10.1063/1.1684684
  10. Л.М. Беляев, Г.С. Беликова, А.Б. Гильварг, И.М. Сильвестрова. Кристаллография 14, 6, 645 (1969)
  11. S. Haussuhl. Z. Kristallographie 196, 1-4, 47 (1991). DOI: 10.1524/zkri.1991.196.14.47
  12. Г.С. Беликова, Ю.В. Писаревский, И.М. Сильвестрова. Кристаллография 19, 4, 878 (1974)
  13. J.M.A. Almeida, M.A.R. Miranda, L.H. Avanci, A.S. de Menezes, L.P. Cardoso, J.M. Sasaki. J. Synchrotron Rad. 13, 6, 435 (2006). DOI: 10.1107/S0909049506033061
  14. S. Gorfman, O. Schmidt, U. Pietsch, P. Becker, L. Bohaty. Z. Kristallographie 222, 8, 396 (2007). DOI: 10.1524/zkri.2007.222.8.396
  15. А.Е. Благов, Н.В. Марченков, Ю.В. Писаревский, П.А. Просеков, М.В. Ковальчук. Кристаллография 58, 1, 51 (2013). DOI: 10.7868/S0023476113010050
  16. D. Irzhak, D. Roshchupkin. AIP Advances 3, 102108 (2013). DOI: 10.1063/1.4824636
  17. А.Г. Куликов, Ю.В. Писаревский, А.Е. Благов, Н.В. Марченков, В.А. Ломонов, А.А. Петренко, М.В. Ковальчук. ФТТ 61, 4, 671 (2019). DOI: 10.21883/FTT.2019.04.47411.250
  18. A.G. Kulikov, A.E. Blagov, A.S. Ilin, N.V. Marchenkov, Yu.V. Pisarevskii, M.V. Kovalchuk. J. Appl. Phys. 127, 065106 (2020). DOI: 10.1063/1.5131369
  19. S. Gorfman, O. Schmidt, M. Ziolkowski, M. Kozierowski, U. Pietsch. J. Appl. Phys. 108, 064911 (2010). DOI: 10.1063/1.3480996
  20. B. Khanbabaee, E. Mehner, C. Richter, J. Hanzig, M. Zschornak, U. Pietsch, H. Stocker, T. Leisegang, D.C. Meyer, S. Gorfman. Appl. Phys. Lett. 109, 222901 (2016). DOI: 10.1063/1.4966892
  21. R.A. Smith. Acta Crystallographica B 31, 2347 (1975). DOI: 10.1107/S0567740875007558
  22. N.V. Marchenkov, A.G. Kulikov, A.A. Petrenko, Yu.V. Pisarevsky, A.E. Blagov. Rev. Sci. Instruments 89, 095105 (2018). DOI: 10.1063/1.5036955
  23. Н.В. Марченков, А.Г. Куликов, И.И. Аткнин, А.А. Петренко, А.Е. Благов, М.В. Ковальчук. УФН 189, 187 (2019). DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038348
  24. A. Petrenko, N. Novikova, A. Blagov, A. Kulikov, Y. Pisarevskii, I. Verin, M. Kovalchuk. J. Appl. Crystallography 54, 5, 1317 (2021). DOI: 10.1107/S1600576721007366

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme